產品名稱：ETAMax臺式測量儀MFS
產品型號：MFS
產品介紹：
MFS 是一款用于測量薄膜反射率和厚度的臺式測量儀。
MFS臺式測量儀是一款采用長壽命LED光源和非移動式部件的優良測量設備。它能夠在緊湊型系統中實現快速而可靠的薄膜測量，是薄膜厚度測量和光學常數測量的理想工具。
性能特點：
• 配備共焦光學模塊，MFS 可準確測量光學基板的單一面（正面或背面）。
• 內置攝像頭，MFS 可輕松對被測物進行對焦。
• 將用戶預設的規格參數疊加在反射率（R%）結果圖上，有助于判斷產品質量。
• 可測光譜范圍為 380 nm 至 1050 nm，或可選擴展至 1500 nm。
• 支持導出至 Excel
• 可輕松將多個樣本的數據疊加至反射率圖表中進行比較。
• 支持便捷的數據規格設置，用于合格/不合格判定
技術參數：
產地：韓國
波長范圍：380-800nm（可選：高達1000nm或1500nm）
物鏡數值孔徑（N.A.）：0.12（10倍） / 0.24（20倍）
光斑尺寸：?50μm（10倍） / ?25μm（20倍）
可測表面曲率：-1R – -∞、+1R – ∞
測量重復性：
±0.2％ (380 – 430nm)
±0.02％ (430 – 750nm)
±0.2％ (750 – 900nm)
±0.8％ (900 – 1500nm)
可讀分辨率：<0.5nm (近紅外：<2nm)
測量時間：數秒（取決于采樣時間）
外形尺寸（主機）：(寬)280 × (高)630 × (深)420 mm
工作溫度：18 – 28℃
環境濕度：≦ 60%（無凝露）
產地 | 韓國 |
波長范圍 | 380-800nm（可選：高達1000nm或1500nm） |
物鏡數值孔徑（N.A.） | 0.12（10倍） / 0.24（20倍） |
光斑尺寸 | ?50μm（10倍） / ?25μm（20倍） |
可測表面曲率 | -1R – -∞、+1R – ∞ |
測量重復性 | ±0.2％ (380 – 430nm) |
±0.02％ (430 – 750nm) | |
±0.2％ (750 – 900nm) | |
±0.8％ (900 – 1500nm) | |
可讀分辨率 | <0.5nm (近紅外 |
測量時間 | 數秒（取決于采樣時間） |
外形尺寸（主機） | (寬)280 × (高)630 × (深)420 mm |
工作溫度 | 18 – 28℃ |
環境濕度 | ≦ 60%（無凝露） |
產品應用：
MFS臺式測量儀廣泛應用于半導體、材料科學、光學和涂層等領域。它可以用于測量透明單層薄膜的厚度和折射率，但也取決于基底和薄膜的光學常數。此外，它還可以用于測量多層薄膜疊層（有時多達5層），具體取決于各層的厚度和折射率。
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