隨著技術的發展，光學薄膜的光學性能也在廠家的不斷提高，市場需要更好的產品，其中在液晶面板吃起的成產中，也液晶貼的的一層膜的配向角度的優良很大程度上影響生產出來的液晶面板的顯示效果的好壞。關于如何了解這一層配向膜（PI）的配向角度，研發人員一直沒有合適設備來測量， 近期，日本的phl廠家帶來一款通過測量雙折射的方法來檢測配向角度的設備。

測量示例：

通過WPA-200的檢測，可以知道產品的雙折射大小和方向，內應力的分布情況，在經過分析得到數據。