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微米級懸浮微?？梢暬瘷z測系統 參考價：10000
微米級懸浮微?？梢暬瘷z測系統是一套專為高潔凈度環境設計的高靈敏度微粒污染物可視化追蹤系統。它突破了傳統成像技術的局限，通過高性能光源與成像算法的有機結合，實現了...
無掩模紫外激光直寫系統 參考價：800000
無掩模紫外激光直寫系統可用于微納結構的高精度圖形加工，實現亞微米級分辨率與高精度定位能力。兼具大面積圖形加工能力與亞微米級精度保證。應用于微型顯示芯片等光電器件...
紫外激光直寫光刻機 參考價：100000
紫外激光直寫光刻機設備具備優異的微納精密圖形加工性能，可實現亞微米級成像分辨率與高精度運動定位，融合大面積高效加工與超高加工精度雙重優勢。主要應用于微型顯示芯片...
Photonic lattice顯微鏡型應力雙折射儀 參考價：100000
PA-Micro 是日本 Photonic Lattice 公司推出的高精度顯微雙折射與應力測量系統，可搭載商用顯微鏡，實現 0–130 nm 相位差、光軸方位...
單圈反諧振空芯光纖 參考價：3000
單圈反諧振空芯光纖PRODUCTS反諧振空芯光纖是一類利用反諧振（antiresonant reflection）實現光在空芯中傳輸的微結構光纖，是實現長距離大...
光子帶隙空芯光纖 參考價：3000
光子帶隙空芯光纖PRODUCTS是利用具備光子帶隙效應（photonic bandgap）的周期性空氣孔結構作為包層，以實現光在空芯中傳導的微結構光纖。
嵌套反諧振空芯光纖 參考價：3000
嵌套反諧振空芯光纖是一類利用反諧振效應（antiresonant reflection）實現光在空芯中傳輸的微結構光纖，是實現長距離大功率和超快激光脈沖傳輸的理...
光子晶體光纖 參考價：3000
光子晶體光纖PRODUCTS是一種具有周期性空氣孔結構包層的實芯光纖，其設計靈活、性能調節方便，在通信、激光器、傳感器等領域有著廣泛的應用前景。
玻璃應力雙折檢測系統 參考價：1000
玻璃應力雙折檢測系統PA300和PA300-L是Photonic lattic公司以其Lxian世界的光子晶體制造技術開發的產品，高精度的測量技術，高速而又的測...
應力雙折射測量系統 參考價：1000
應力雙折射測量系統WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其光子晶體制造技術開發的產品，的測量技術使...
玻璃應力雙折射測量系統 參考價：1000
玻璃應力雙折射測量系統PA系列分布測量儀:理想的光學玻璃是各向同性的，但在退火過程中由于玻璃內外溫度不同，或者退火爐內各處溫度不等都會產生內應力。光學玻璃內應力...
應力雙折射測量系統 參考價：1000
應力雙折射測量系統WPA-200-L系列是Photonic lattice公司以其優良世界的光子晶體制造技術開發的產品，高精度的測量技術，高速而又精q的測量能力...
顯微鏡型相位差測量儀 參考價：1000
顯微鏡型相位差測量儀WPA-micro操作簡單，測量速度可以快到3秒，采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。測量數據是二維分布圖像，可以更...
雙折射測量儀PA-300-L 參考價：1000
雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范...
應力雙折射測量系統 參考價：1000
應力雙折射測量系統WPA-200-MT是Z業用于手機鏡頭等小尺寸鏡頭的應力雙折射測量設備。鏡片的雙折射現象會造成鏡片成像性能（MTF）下降，智能手機所使用的鏡片...
紅外應力雙折射測量系統 參考價：1000
紅外應力雙折射測量系統WPA-NIR硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應力評估很難實現，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-...
雙折射測量儀PA-Micro 參考價：1000
雙折射測量儀PA-Micro操作簡單，測量速度可以快到3秒。更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點。具有多種分析功能和測量結果的比較。維護簡單，不含旋轉光學濾片的機...
雙折射測量儀PA-300-MT 參考價：1000
雙折射測量儀PA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品...
內應力測量儀PA-300-XL 參考價：1000
內應力測量儀PA-300-XL是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品...
玻璃內應力測量儀 參考價：1000
玻璃內應力測量儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米...
PHL應力雙折射測量儀 參考價：1000
WPA系列是Photoniclattice公司采用自研的光子晶體技術，開發的一款適用性高的應力雙折射檢測設備，可測量相位差（光程差）高達3500nm，PHL應力...
PHL 應力雙折射檢測儀PA系列 參考價：1000
PHL 應力雙折射檢測儀PA系列由日本Photonic lattice公司開發，具備高精度和快速測量的特點。 該設備采用光子晶體偏光陣列片和獨特的雙折射算法，能...
Photonic lattice應力雙折射儀 參考價：1000
WPA系列是Photoniclattic公司采用自研的光子晶體技術，開發的一款適用性高的應力雙折射檢測設備，可測量相位差（光程差）高達3500nm，Photon...
雙折射應力測試設備 參考價：1000
雙折射應力測試設備WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其光子晶體制造技術開發的產品，的測量技術使...
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