產(chǎn)品簡(jiǎn)介
日本山田光學(xué) YP-150ID 檢查燈是一款工業(yè)級(jí)高顯色性精密檢測(cè)光源,采用鹵素冷鏡技術(shù),提供超高照度與穩(wěn)定色溫,專為微小缺陷目視檢查設(shè)計(jì)。設(shè)備具備高照度、低熱量、高顯色、易操作等特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、液晶、光學(xué)元件、精密涂裝等領(lǐng)域的表面瑕疵檢測(cè)。
產(chǎn)品詳細(xì)介紹
在精密制造與品質(zhì)管控中,細(xì)微劃痕、霧度、灰塵、色差等缺陷,在普通光源下難以辨識(shí),易導(dǎo)致不良品流出。日本山田光學(xué) YP-150ID 檢查燈作為專業(yè)目視輔助光源,專為解決此類難題研發(fā),通過(guò)高對(duì)比度照明放大表面細(xì)節(jié),幫助檢測(cè)人員快速發(fā)現(xiàn)微小異常,提升質(zhì)檢效率與準(zhǔn)確性。
日本山田光學(xué) YP-150ID 檢查燈核心優(yōu)勢(shì)在于高照度與冷光源設(shè)計(jì)。采用 JCR15V150W 鹵素?zé)簦钆淅浞瓷溏R,照度可達(dá) 400,000Lux 以上,照射直徑 φ30mm,光束距離 140mm,能精準(zhǔn)聚焦檢測(cè)區(qū)域,強(qiáng)化缺陷邊緣對(duì)比度,輕松識(shí)別 0.1mm 級(jí)細(xì)微劃痕、拋光不均、表面異物等問(wèn)題。冷鏡技術(shù)可過(guò)濾大部分紅外熱量,熱影響僅為傳統(tǒng)設(shè)備的 1/3,有效避免液晶基板、光學(xué)薄膜、半導(dǎo)體晶圓等熱敏感樣品受熱損傷,實(shí)現(xiàn)無(wú)損檢測(cè)。
設(shè)備色溫穩(wěn)定在 3400K,高顯色性可真實(shí)還原物體本色,適用于汽車內(nèi)飾、電子外殼、紡織品等對(duì)顏色一致性要求高的場(chǎng)景,及時(shí)發(fā)現(xiàn)色差、涂裝瑕疵。支持高 / 低兩檔照度一鍵切換,無(wú)需調(diào)整距離即可適配不同缺陷類型,兼顧精細(xì)檢測(cè)與日常巡檢需求。整機(jī)結(jié)構(gòu)堅(jiān)固,防塵防污,采用強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻,保障長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)運(yùn)行穩(wěn)定;燈體輕巧,搭配支架可靈活調(diào)節(jié)高度與角度,適配生產(chǎn)線、實(shí)驗(yàn)室、潔凈室等多場(chǎng)景作業(yè)。
日本山田光學(xué) YP-150ID 檢查燈操作簡(jiǎn)便,開(kāi)機(jī)即亮,無(wú)需復(fù)雜校準(zhǔn);燈泡壽命 35–50 小時(shí),更換便捷,維護(hù)成本低。設(shè)備廣泛用于半導(dǎo)體晶圓、液晶面板、光學(xué)鏡片、精密模具、涂裝件、皮革、金屬板材等表面缺陷檢測(cè),是精密制造領(lǐng)域目視質(zhì)檢的常用設(shè)備。
技術(shù)參數(shù)
應(yīng)用領(lǐng)域
半導(dǎo)體:晶圓、芯片表面劃痕、異物、霧度檢測(cè)
光電:液晶基板、光學(xué)鏡片、薄膜涂層缺陷檢查
精密加工:金屬板、模具、精密零件表面瑕疵識(shí)別
涂裝行業(yè):汽車內(nèi)外飾、電子外殼、噴涂件色差與傷痕檢測(cè)
其他:皮革、紡織品、印刷品等表面質(zhì)量檢查