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日本抹茶超微粒粉碎機
日本抹茶超微粒粉碎機FPS-1采用石臼式研磨方式、和其他得粉碎方法相較之下、粒度分布變得更明顯、產(chǎn)品的粒子不僅具有圓幅度且更加平滑。我公司的“超微粒粉碎機“又被...
型號: FPS-1
所在地:深圳市
參考價:
面議更新時間:2024/9/9 9:27:42
對比
超微粒粉碎機茶葉粉碎機抹茶低溫粉碎機抹茶超微粉碎機食品干式粉碎機
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日本 Top Water 小型 RO 高純水裝置
日本 Top Water 小型 RO 高純水裝置TW?010?SRO?IE 小型 RO 高純水裝置,緊湊型臺式機身,產(chǎn)水量 10L/H,產(chǎn)水水質(zhì)可達 1μs/c...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1118更新時間:2026/8/15 11:45:15
對比
小型 RO 高純水裝置實驗室純水機反滲透純水設備臺式高純水儀10L 每小時制水設備
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日本 Top Water 桌上型超純水裝置
日本 Top Water 桌上型超純水裝置TOPure3 HERBEST 桌上型超純水裝置,采用多級濾芯組合,產(chǎn)水量 20L/H,采水流量 1L/min,出水滿...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1116更新時間:2026/8/15 11:40:57
對比
桌上型超純水裝置JIS K0057A3 水質(zhì)實驗室超純水機RO 反滲透純水設備可定制超純水系統(tǒng)
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日本 Thermera 雙波長分光光學系統(tǒng)
日本 Thermera 雙波長分光光學系統(tǒng)該雙波長分光光學系統(tǒng)可搭配單色相機,單臺設備同步采集兩組不同波長圖像,配套軟件完成圖像合成,實現(xiàn)雙色法溫度測算,規(guī)避化...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1116更新時間:2026/8/15 11:36:41
對比
雙波長分光光學系統(tǒng)雙色熱成像測溫非接觸溫度測量高溫場觀測燃燒測溫光學組件
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日本 Thermera?seenU 高溫測溫系統(tǒng)
日本 Thermera?seenU 高溫測溫系統(tǒng)該系統(tǒng)搭載 DensitoCam U174S 彩色相機,采用雙色測溫算法,可實現(xiàn) 900℃以上高溫物體實時二維溫...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1115更新時間:2026/8/15 11:28:12
對比
雙色熱成像測溫系統(tǒng)非接觸高溫測量實時溫度分布檢測工業(yè)高溫相機熔融金屬測溫
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日本 Thermera?NIR3 中高溫實時測溫系統(tǒng)
日本 Thermera?NIR3 中高溫實時測溫系統(tǒng)Thermera?NIR3 搭載 DensitoCam Duo3 雙傳感器相機,可選配兩片帶通濾光片,實現(xiàn) ...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1116更新時間:2026/8/15 11:17:15
對比
波長可選測溫系統(tǒng)中高溫紅外測溫DensitoCam Duo3 相機500?1200℃測溫工業(yè)熱成像檢測
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日本 Thermera InGas23 測溫系統(tǒng)
日本 Thermera InGas23 測溫系統(tǒng)該測溫系統(tǒng)搭載 DensitoCam InGas 系列近紅外雙傳感器相機,采用 InGaAs 感光元件,可實現(xiàn) ...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1114更新時間:2026/8/15 11:14:32
對比
近紅外雙色測溫InGaAs 相機測溫300℃低溫測溫非接觸熱分布測量透過玻璃測溫
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日本 Thermera 高速高溫溫度解析系統(tǒng)
日本 Thermera 高速高溫溫度解析系統(tǒng)該系統(tǒng)為雙色算法熱成像相機系統(tǒng),不易受發(fā)射率干擾,無需輻射率校正,支持實時與離線溫度解析,可透過玻璃觀察窗完成測溫,...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1112更新時間:2026/8/15 11:11:26
對比
雙色熱成像測溫高速高溫解析非接觸溫度測量燃燒場測溫透過玻璃測溫
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日本 NEOARK 硬盤垂直磁記錄層評估裝置
日本 NEOARK 硬盤垂直磁記錄層評估裝置基于極 Kerr 效應完成硬盤垂直磁記錄層磁滯回線測量,支持磁盤樣品映射評估,半導體激光光源波長可協(xié)商,熱輔助磁記錄...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1115更新時間:2026/8/15 11:00:56
對比
垂直磁記錄層檢測極克爾效應磁盤映射評估磁滯回線測試存儲介質(zhì)磁性檢測
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日本 NEOARK 硬盤背板層評估裝置
日本 NEOARK 硬盤背板層評估裝置面向成膜硬盤記錄層的面內(nèi)背面層開展磁性評估,依托縱向 Kerr 效應完成面內(nèi)磁化樣品磁滯回線檢測,支持磁盤樣品映射評估,適...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1115更新時間:2026/8/15 10:53:31
對比
硬盤背板層檢測縱向克爾效應磁盤樣品映射面內(nèi)磁化測試磁滯回線測量
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日本 NEOARK 薄膜平面磁特性評價裝置
日本 NEOARK 薄膜平面磁特性評價裝置設備配置面內(nèi)旋轉(zhuǎn)磁場,可快速完成面內(nèi)磁特性以及磁化偏角評估,最大可兼容 12 英寸晶圓,支持薄膜樣品映射評估,半導體激...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1115更新時間:2026/8/15 10:50:30
對比
面內(nèi)磁性薄膜檢測旋轉(zhuǎn)磁場磁光測試晶圓映射評估磁傳感器薄膜表征12 英寸晶圓測試
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日本 NEOARK 薄膜垂直磁性特性評估裝置
日本 NEOARK 薄膜垂直磁性特性評估裝置專為大尺寸晶圓樣品開發(fā),可完成垂直磁性堆疊膜、MTJ 膜等材料的磁性檢測,支持最大 12 英寸薄片試樣,具備晶圓映射...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1116更新時間:2026/8/15 10:41:00
對比
垂直磁性薄膜評估晶圓磁性能映射MTJ 膜測試磁光克爾測量12 英寸晶圓檢測
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日本 NEOARK 面內(nèi)垂直同時 Kerr 環(huán)測量裝置
日本 NEOARK 面內(nèi)垂直同時 Kerr 環(huán)測量裝置設備采用雙向?qū)ΨQ入射光學系統(tǒng),依托斜入射 Kerr 效應,可同步分離采集樣品面內(nèi)與垂直兩個方向磁化分量,實...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1116更新時間:2026/8/15 10:35:56
對比
克爾效應測量面內(nèi)垂直磁化同步檢測磁光 Kerr 環(huán)微區(qū)磁疇測試磁性薄膜表征
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日本 NEOARK 分光克爾法拉第效應測量裝置
日本 NEOARK 分光克爾法拉第效應測量裝置該裝置采用白光光源完成磁光效應波長依賴性光譜評估,依托多通道分光器實現(xiàn)高速采集,整套光譜測試耗時控制在 5 分鐘以...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1113更新時間:2026/8/15 10:06:34
對比
磁光光譜測量克爾效應檢測法拉第效應測試磁滯回線波長依賴多通道分光磁測
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日本 NEOARK 克爾環(huán)磁區(qū)同步評估裝置
日本 NEOARK 克爾環(huán)磁區(qū)同步評估裝置該裝置可同步采集 Kerr 效應磁滯回線與磁疇圖像,依靠切換機構(gòu)兼容面內(nèi)、垂直磁化兩類試樣,物鏡倍率、激光波長、施加磁...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1113更新時間:2026/8/15 10:01:33
對比
克爾效應磁疇觀測磁區(qū)同步評估面內(nèi)垂直磁化測試磁滯回線采集半導體激光磁測
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日本 KMTL VE 系列楊氏模量測量裝置
日本 KMTL VE 系列楊氏模量測量裝置VE 系列采用縱向共振固有振動法,符合 JIS R7222 石墨材料檢測標準,可完成棒狀試樣楊氏模量測試。分為實驗室臺...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1113更新時間:2026/8/15 9:54:27
對比
縱向共振模量儀石墨楊氏模量測試JIS R7222 標準大型棒材彈性檢測陶瓷金屬模量測定
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日本 KMTL TE 系列楊氏模量測定裝置
日本 KMTL TE 系列楊氏模量測定裝置TE 系列采用懸臂梁共振法,針對 0.1mm 以下薄箔、細線類低剛性試樣開發(fā),配備專用夾具完成楊氏模量與內(nèi)部摩擦測試。...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1116更新時間:2026/8/15 9:51:46
對比
懸臂梁共振模量儀薄膜細線彈性測試楊氏模量檢測內(nèi)部摩擦測定高低溫材料測試
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日本 KMTL JG 系列剛性率測量裝置
日本 KMTL JG 系列剛性率測量裝置JG 系列采用自由共振扭轉(zhuǎn)振動測試原理,依靠非接觸靜電激勵完成剛性率、內(nèi)部摩擦檢測??膳c JE 系列控制器搭配使用,結(jié)合...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1114更新時間:2026/8/15 9:45:36
對比
共振法剛性率測試儀材料內(nèi)部摩擦檢測非接觸靜電激勵泊松比計算材料彈性性能測試
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日本 KMTL JE 系列楊氏模量測量裝置
日本 KMTL JE 系列楊氏模量測量裝置JE 系列遵循 ASTM、JIS 自由共振測試標準,采用非接觸靜電激勵方式,完成楊氏模量、內(nèi)部摩擦檢測。覆蓋常溫、高溫...
型號:
所在地:深圳市
參考價:
¥1116更新時間:2026/8/15 9:41:04
對比
共振法楊氏模量測試儀材料內(nèi)部摩擦測量非接觸靜電激勵高低溫彈性模量檢測ASTMJIS 標準測試
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日本 KMTL RF 系列共振式疲勞試驗裝置
日本 KMTL RF 系列共振式疲勞試驗裝置RF 系列為薄板、細線專用共振疲勞試驗設備,采用片持共振法,可對板厚 0.8mm 以內(nèi)試樣開展雙向彎曲疲勞測試,10...
型號: RF?RT、RF?...
所在地:深圳市
參考價:
¥1119更新時間:2026/8/14 14:15:29
對比
薄板細線疲勞試驗機共振式彎曲疲勞測試S?N 曲線測定高頻疲勞試驗機金屬薄板疲勞檢測