quDIS六自由度激光干涉測量系統 參考價：面議
quDIS六自由度激光干涉測量系統是一種用于校準和評估各種運動系統和機械的多軸精度的儀器。通常用于制造、機器人、數控機床和坐標測量機等應用領域，以保持設備的精度...
高性價比干涉式激光尺 參考價：面議
高性價比干涉式激光尺摒棄了傳統激光干涉儀的分立光學器件結構，將激光器、調制器、光電探測器和濾波器等眾多光學元件集成至單一光學芯片上，并與激光二極管、探測器陣列和...
H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀 參考價：面議
Heliotis H9/H9M 均為工業級白光干涉（WLI）3D 表面輪廓儀，基于低相干寬帶光在零光程差附近形成高對比度條紋，通過 Z 軸掃描與像素級相干峰 /...
TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀） 參考價：面議
Polytec GmbH提供完整的光學表面計量解決方案，用于工程表面質量檢測和形狀評估 - 無論是數控加工精密零件的平面度或臺階高度、光滑光學元件的翹曲和形狀，...
TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀） 參考價：面議
Polytec旗下的 TopMap Metro.Lab，是一款高精度白光干涉儀（相干掃描干涉儀），以其大垂直測量范圍與納米級分辨率脫穎而出。這一特性，使得 Me...
SIOS雙光束激光干涉儀SP 5000 DS 參考價：面議
SIOS雙光束激光干涉儀SP 5000 DS用于需要同時獲取運動角度和長度信息的測量任務。該干涉儀的測量原理基于 SP 5000 NG 測量設備。兩個測量激光束...
VFI 光纖端面干涉儀 參考價：面議
VFI 光纖端面干涉儀可測量大多數標準和特種光纖，包括保偏光纖和空芯光纖。VFI光纖端面干涉儀在研究、生產和質量保證領域已得到反復驗證。
雙頻激光干涉儀 參考價：面議
雙頻激光干涉儀HPI-3D是市場上的高性能激光干涉儀之一。作為雙頻外差系統，它的測量精度和分辨率為用戶提供了大量新的選擇。非常容易使用，它既可以應用于研究實驗室...
法國Phasics多波長激光干涉儀模塊 參考價：面議
KALEO套件多波長激光干涉儀模塊是用于光學計量的模塊化系統。 它由多種相互兼容的模塊組合而成，可讓用戶搭建一個經濟有效，體積緊湊且易于使用的完整光學測試系統。...
半導體/薄膜無損檢測儀 參考價：面議
半導體/薄膜無損檢測儀：半導體行業為我們周圍遇到的大多數電子設備提供了基本組件。它的制造需要在硅晶片上進行多次薄膜沉積，。
綜合電子測量分析儀（十二功能合一） 參考價：面議
綜合電子測量分析儀（十二功能合一）可讓您觀察DC到250 MHz之間頻域中的輸入信號。在100Hz的zui小跨度下，同時查看分辨率低至1 Hz的兩個數據通道。頻...
皮米精度位移激光干涉儀 參考價：面議
昊量光電推出的皮米精度位移干涉測量儀quDIS是對納米級別的位移波動進行量測的理想儀器，基于其*的測量原理，相對距離的重復精度達到了50皮米。quDIS可同時支...
λ/1000超高精度激光干涉儀 參考價：面議
愛沙尼亞Difrotec公司的激光干涉儀是市場上高精度干涉儀的*產品，測量精度可達0.6nm（λ/1000）. 其*產品D7激光干涉儀采用點衍射技術，主要用于高...
直接激光干涉圖形加工器 參考價：面議
直接激光干涉圖形加工器可以利用脈沖激光簡便地、高速地在大范圍區域形成周期性幾何形狀從而直接燒蝕材料表面。
激光剪切散斑干涉系統——NDT無損檢測 參考價：面議
激光剪切散斑干涉系統——NDT無損檢測是所有的光學模組和激光器集成在一個手持式，耐用和輕便的機殼中，接通電源，通過USB連接到電腦，就可以開始檢測了。
光纖法布里-珀luo干涉儀 參考價：面議
光纖法布里-珀luo干涉儀系列產品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設計。FFP 的設計簡潔優雅的關鍵在于其無透鏡全光纖結構。沒有準直光學器件或透鏡，消除...
點衍射激光干涉儀 參考價：面議
點衍射激光干涉儀:絕對測量精度(Peak-to-valley): ± 0.6 nm (λ/1000)分辨率(Peak-to-valley): 0.05 nm (...
太赫茲掃描干涉儀 參考價：面議
太赫茲掃描干涉儀主要用于測量窄帶太赫茲輻射的波長和強度分布，同時也可用于脈沖和連續窄帶太赫茲輻射源。TSFPI由兩個半透明平行硅鏡組成，其中一個安裝在電機驅動的...
多波長動態干涉儀 參考價：面議
Kaleo MultiWAVE多波長動態干涉儀同時可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度，及動態干涉儀的抗震性能。
皮米級絕對距離測量干涉儀 參考價：面議
皮米級絕對距離測量干涉儀通過將可調激光器的頻率鎖定到F-P干涉儀的的諧振頻率上，將干涉儀的位移測量轉換為頻率變化的測量。當F-P腔長在變化時，其諧振峰的頻率也在...
白光干涉儀 參考價：面議
Xper WLI 是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非...
邁克爾遜干涉儀 FTIR用 參考價：面議
在一個臂上增加一個移動反光鏡以完成干涉儀，并允許光路差在零OPD附近變化。堅固的結構和對準的特點，意味著 INT 05 系列干涉儀很適合您更高精度的近紅外分析儀...
高精度位移測量儀-激光干涉儀 參考價：面議
昊量光電推出的PICOSCALE位移測量儀產品是基于激光干涉方法設計的非接觸式位移和振動測量設備。因為不需要物理接觸，所以測量不會影響物體。這尤其適用于較小的物...
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