一、產品概述
徠卡偏光顯微鏡是德國光學儀器制造商Leica Microsystems研發(fā)的研究級手動專業(yè)偏光檢測設備，依托成熟的偏振光學原理，專為各類具備雙折射特性的材料觀測與分析量身打造。設備區(qū)別于普通光學顯微鏡，可穿透樣品表層，精準揭示材料內部晶體結構、應力分布、各向異性特征與微觀排布狀態(tài)，輸出精準、詳實、可量化的微觀檢測信息，是材料科研、地質研究、工業(yè)質控領域的核心光學設備。
設備基于精密偏振光學系統(tǒng)開發(fā)，通過起偏器與檢偏器的精準配合，搭配勃氏鏡、刻度旋轉載物臺、補償器、可調波長濾片等專業(yè)配件，可精準測定礦物光性方位角、干涉色級、材料應力雙折射、分子鏈排布等核心參數。整機采用模塊化架構設計，支持透射、透反射雙模式配置，光路性能優(yōu)異、成像對比度高、色彩還原精準，可廣泛適配巖石礦物、玻璃陶瓷、高分子塑料、纖維織物、液晶電子、醫(yī)藥燃料等多類樣品的觀測與檢測工作，高效完成科研試驗與工業(yè)質量管控任務。
二、核心工作原理
徠卡偏光顯微鏡以偏振光光學原理為核心，實現各向異性材料的微觀結構精準解析。設備通過下偏光鏡將自然光轉化為單一方向的線偏振光，均勻穿透被測樣品；由于雙折射材料內部結構、應力分布不均勻，偏振光穿透后會產生光程差與偏振方向偏轉。
穿透樣品的光線進入上部檢偏器，通過精準調節(jié)檢偏器角度，捕捉不同方向的光強變化與干涉色差，清晰呈現樣品內部晶體形態(tài)、應力集中區(qū)域、結構缺陷、分子排布特征。搭配勃氏鏡可實現錐光觀測，精準判定礦物光性、干涉色級序；配合刻度旋轉載物臺與補償器，可完成各類偏振參數定量分析，結合圖像采集與軟件分析，實現微觀結構可視化、數據化解析。
三、設備核心結構與光學配置
1. 專業(yè)偏振光學系統(tǒng)
搭載徠卡專屬精密偏振光路系統(tǒng)，機身預留多組偏光鏡片專用安裝位置，光學結構協調統(tǒng)一、光路穩(wěn)定無偏差，保障偏振觀測的專業(yè)性與精準度，杜絕雜光干擾，成像干涉紋理清晰、層次分明。
2. 五孔位專業(yè)物鏡轉盤
配備5孔位手動物鏡轉盤，適配25mm直徑偏光專用物鏡，可快速切換不同倍率觀測，精準捕捉樣品微觀細節(jié)，全面采集樣品結構信息，觀測范圍廣、精度高。
3. 大視野光路設計
整體光路支持25mm視野直徑，同時支持22mm視場全域預覽，可實現大視野樣品整體觀測，兼顧全局概覽與微觀細節(jié)放大，觀測效率大幅提升。
4. 雙模式照明系統(tǒng)
機身內置長壽命、高亮度、恒定色溫的透、反射專用照明電源，支持手動無級調節(jié)光強。透、反射光路亮度遠超傳統(tǒng)100W鹵素燈箱，光線均勻穩(wěn)定、色溫恒定，有效保障偏振干涉成像效果，避免光照偏差影響檢測結果。
5. 多模式觀測光路
反射光支持明場、偏光、斜照明、干涉四種觀測模式；透射光支持明場、暗場、偏光、干涉、錐光五種觀測模式，可根據不同樣品材質與檢測需求自由切換，適配性較強。
6. UC-3D照明對比度技術
搭載入射光UC-3D照明技術，可大幅提升樣品微觀結構對比度，細微缺陷、應力紋理、結構邊界清晰凸顯，成像質感優(yōu)異。
四、核心產品特點
1. 研究級專業(yè)性能，適配科研質控
作為全手動研究級偏光顯微鏡，專業(yè)適配巖石薄片、陶瓷玻璃、高分子材料、塑料薄膜、纖維織物等樣品的高階偏光特性分析，檢測精度、成像效果對標科研設備。
2. 模塊化靈活拓展，一機多用
整機采用模塊化設計，可自由切換透射配置、透反射配置，同時支持豐富配件拓展，可對接攝像頭、數碼相機等圖像采集設備，實現圖像存儲、可視化分析；可搭配冷熱臺、陰極發(fā)光儀、光度計、熒光配件等外設，滿足多元化試驗需求。
3. 精準定量分析能力
搭配刻度旋轉載物臺、專業(yè)補償器與濾片，可精準完成礦物光性判定、干涉色級測定、材料應力雙折射量化分析，支持各類偏光參數精準測算。
4. 成像效果優(yōu)異，細節(jié)表現力強
依托高對比度干涉成像技術，可清晰呈現材料內部應力條紋、晶體結構、微觀缺陷，搭配軟件可實現偽彩增強與三維重建，直觀解析復雜微觀結構。
5. 操作穩(wěn)定靈活，性價比突出
設備摒棄全自動結構的同時，保留媲美Leica DM4P的靈活操作性能，手動調節(jié)精準可控、穩(wěn)定性強，適配精細化科研試驗與常態(tài)化質檢工作，兼顧性能與實用性。
6. 無損檢測，適配多類樣品
采用光學非接觸式檢測方式，無需制樣損傷，可完整保留樣品原始結構，適配精密、易碎、高價值樣品的反復觀測分析。
五、核心應用領域
1. 地球科學領域
廣泛應用于地質學、巖石學、礦物學研究，可精準完成晶體結構表征、礦物薄片鑒定、石棉成分分析、煤樣鏡質體反射率檢測等試驗，是地質科研、礦產分析的核心設備。
2. 工業(yè)質量管控領域
適用于玻璃制品應力雙折射檢測、內部夾雜物缺陷分析；塑料、聚合物材料的分子取向度、應力分布檢測；紡織品、纖維織物微觀結構觀測；液晶顯示器、電子元器件的排列缺陷、微觀瑕疵檢測，為工業(yè)產品質量優(yōu)化、工藝整改提供精準數據支撐。
3. 新材料與科研領域
可用于高分子材料分子鏈排布研究、復合材料各向異性分析、藥物晶體結構檢測、燃料與粘接劑微觀特性分析，助力新材料研發(fā)、機理研究與性能優(yōu)化。
六、設備應用價值
徠卡DM2700P偏光顯微鏡突破了普通光學顯微鏡僅能觀測表面形貌的局限，可直觀“透視”材料內部應力場與晶體結構，實現從表面觀測到內部機理分析的升級。無論是基礎地質科研、新材料機理研究，還是工業(yè)產品精密質控，設備均可提供精準、穩(wěn)定、可溯源的微觀檢測數據，有效助力企業(yè)優(yōu)化生產工藝、提升產品性能、嚴控產品缺陷，是材料科學、地球科學、精密制造領域的光學檢測設備。
七、DM2700P徠卡偏光顯微鏡技術參數：
| | Leica DM2700 P |
| 尺寸和重量 | 取決于配置，約 18 kg 長度：410 mm (帶燈箱)，寬度：331 mm，高度：505 mm (取決于鏡筒和配置) |
| 物鏡轉盤 | 5 倍 (M25)，可調中 |
| 目鏡可見視場 (視野值) | 視野值 22 / 20 mm |
| 入射和透射照明 | 高功率 LED |
| | 選配： |
| | 鹵素光源 12V / 100W |
| | Leica EL6000 熒光激發(fā)外部光源 |
| | 貢燈箱 (水銀) |
| 入射光軸 | 手動，4 位轉盤，彩色編碼光圈輔助 (CDA) |
| 入射光 | 偏振對比 |
| | 明場 |
| | 微分干涉相襯 (DIC) |
| | 熒光 |
| | UC-3D 照明 |
| 透射光軸 | 手動聚光鏡操作，帶彩色編碼光圈輔助 (CDA) |
| 透射光 | 偏振對比 |
| | 正像檢查 |
| | 錐光偏振 |
| | 明場 |
| | 相襯 |
| | 微分干涉相襯 (DIC) |
| | 暗場 |
| 載物臺 | 360° 旋轉偏振臺，帶游標和電磁鎖 |
| | 360° 旋轉偏振臺，帶游標、45° 卡位和電磁鎖 |
| | 載物臺支架，適用于第三方載物臺 |
| | 75x50 掃描臺 |
| | 手動 xy 載物臺 |
| | |
| 調焦驅動器 | 載物臺沖程 25-mm |
| | 載物臺總沖程 40-50 mm，取決于載物臺和聚光鏡類型 |
| | 2 檔焦點驅動器 (粗調／微調)，1mm 刻度 |
| | 3 檔焦點驅動器 (粗調／中調／微調)，1 mm 和 4 mm 刻度，扭矩調節(jié)，以及可調頂部調焦限位 |
| | 按需可提供電動版本 |
| 錐光 | 勃氏鏡反射塊 |
| | 勃氏鏡模塊 (A/B 模塊) |
| | 高級錐光學模塊 (手動) |
| 檢偏鏡 | 固定檢偏鏡 |
| | 180° 旋轉檢偏鏡 |
| | 360° 旋轉檢偏鏡 |
| 起偏鏡 | 360° 起偏鏡，用于入射光 |
| | 360° 起偏鏡，用于透射光 |
| | 固定起偏鏡，帶 Lambda 臺板 |
| | 固定起偏鏡，具有 0°、45° 和 90° 位置 |
| | 90° 起偏鏡，帶旋轉 Lambda 臺板 |
| | 安裝在固定器中的起偏鏡，用于透射光 |
| 補償器 | l，l/4，石英臺面 (0-4 級)，傾斜補償器 |
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