目錄:茂鑫實業（上海）有限公司>>徠卡顯微鏡>>晶圓檢測顯微鏡>> Leica DM8000M徠卡8寸晶圓檢查及缺陷分析顯微鏡
視野擴大四倍以上宏觀放大功能 使您可以比傳統掃描物鏡多看四倍以上的視野。 | 極限分辨率全新的傾斜紫外模式 (OUV) 在紫外光基礎上結合了傾斜光設計理念，確保您可以從任何角度都得到可見物理光學的極限分辨率。 |
人機工程學設計非常適合 長時間在顯微鏡上工作, 直觀操作適應任何程度的使用者。 | LED 照明內置一體化的 LED照明 達到了空氣環流. 長壽命和低能耗的LED特性同樣為用戶節省了大量成本。 |
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