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沖擊試樣缺口投影儀是科準(zhǔn)測(cè)控依據(jù) GB/T229-2020 標(biāo)準(zhǔn)研發(fā),是沖擊試驗(yàn)配套的專(zhuān)用光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,用于檢驗(yàn)夏比 V 型、U 型試樣的缺口加工質(zhì)量。設(shè)備采用...
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