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STM系列白光干涉儀可用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級別測量,以“面"的形式獲取表面3D形貌通過專用軟件對3D形貌進行處理和分析,最高RMS重復性可達0...
SDM系列 影像測量儀結合CC數位像和光柵位位移值,通過軟件計算后實現測量。影像儀具有高穩定性、高精度、高效率等特點,能夠滿足現代工業大批量、高精度的測量需求。
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