LCD、OLED、Mini LED、柔性顯示屏由多層光學功能薄膜堆疊構成,ITO 導電膜、取向層、有機發光層、阻隔封裝膜、光學補償膜厚度直接影響屏幕色域、對比度、使用壽命。鍍膜厚度出現納米級偏差,容易引發色偏、屏幕亮點、封裝失效等缺陷。藍景 LJ-FT50 反射膜厚儀依托白光干涉光譜反射測量原理,面向顯示面板行業打造標準化薄膜檢測方案。
檢測過程中,寬帶光源入射面板膜層表面,薄膜界面反射光產生干涉光譜;光譜信號經過算法擬合運算,精準輸出薄膜厚度與光學常數,全程非接觸無損測量,不會損傷柔性基板、超薄有機膜層。氘鹵寬光譜光源覆蓋紫外至近紅外波段,適配有機發光材料、透明導電氧化物等多種膜材,支持單層與多層復合膜同步解析。儀器最高 100Hz 高速采樣,產線上可快速完成大批量面板抽檢;0.05nm 超高重復精度,保障不同批次、不同點位測量數據具備對比參考價值。


針對顯示行業多樣化檢測需求,兩款機型靈活選配。LJ-FT50UV 紫外型號適配超薄有機功能層檢測;LJ-FT50NIR 近紅外機型適合厚阻隔膜、基底涂層測量。彌散光斑探頭適合大面積面板均勻性掃描;聚焦光斑用于像素區域微區定點測試。探頭安裝距離可調,結構緊湊輕巧,可集成在真空鍍膜機、涂布生產線后端,實現在線實時監測;配套 SDK 開發包,方便對接自動化流水線控制系統。
廣泛應用于柔性 OLED 封裝阻隔膜、ITO 導電薄膜、偏光片涂層、液晶取向膜、AR 光學膜厚度檢測,覆蓋面板實驗室新品研發、中試工藝調試、量產在線質檢全流程。藍景反射膜厚儀有效幫助面板企業穩定鍍膜工藝窗口,減少因膜厚異常造成的報廢,加快新型顯示材料配方研發進度,助力顯示制造企業持續提升產品品質與市場競爭力。