ChromaCL2第二代實時彩色陰極發光成像系統 參考價：面議
ChromaCL2第二代實時彩色陰極發光成像系統，是一款*的產品。它具有高效的光學采集和色散能力，采用陣列光電倍增管得到高增益光探測能力。通過DigitalMi...
Gatan原位加熱臺Murano 525 參考價：面議
Gatan原位加熱臺Murano 525,精悍緊湊，能方便地與大多數掃描電鏡的標準樣品臺接口，它包含一個絕熱接口，適用于二次電子像、電子背散射衍射（EBSD）與...
MICROTEST 2000E系列原位動態拉伸試驗臺 參考價：面議
MICROTEST 2000E系列原位動態拉伸試驗臺，可以對金屬樣品施加高達2000N的拉力，用戶EBSD分析，或者對一些其他材料進行常規的應力-應變分析和SE...
圖像分析軟件 參考價：面議
圖像分析軟件詳細描述：曾經是否問過您自己，一個真正優X的圖像處理系統能做些什么？首先，靈活性是基本的。一方面，您想能夠有效和可靠地處理任何工作；另一方面，您想能...
MICROTEST系列原位動態拉伸試驗臺 參考價：面議
MICROTEST系列原位動態拉伸試驗臺,金屬及鍍層：用于研究晶粒變化、鍍層結合情況、高溫形變及松弛機理、晶粒旋轉及織構變化。復合材料：用于研究材料韌性及強度;...
GATAN C1000系列冷臺 參考價：面議
GATAN C1000系列冷臺,包括冷臺模塊，制冷溫度為–185°C 到室溫的C1001，制冷溫度為-185°C 到 +200°C的C1002，或制冷溫度為-1...
Gatan SmartEMIC電子束感應電流測量系統 參考價：面議
Gatan SmartEMIC電子束感應電流測量系統，可以實時軟件控制全自動采集電子束感生電流（EBIC）信號，獲得EBIC圖像信息，還可以獲得IV曲線信息，終...
Monarc 陰極熒光系統 參考價：面議
Monarc 陰極熒光系統，通過突破性的光路設計，Monarc 具有顯著增加的靈敏度和譜分辨率，由此帶來的*特色的波長-角度分辨能力，使您能夠進行更為完整的陰極...
OTS一鍵夾雜物分析系統 參考價：面議
OTS一鍵夾雜物分析系統是一套集掃描電子顯微鏡、大面積高速能譜探測器、夾雜物自動分析軟件以及樣品潔凈度評 價及建議為一體的綜合性分析系統。該系統不僅具有完備的電...
AMICS-Mining礦物特征自動定量分析系統 參考價：面議
AMICS-Mining礦物特征自動定量分析系統 AMICS-Mining由工藝礦物學家團隊主持開發的第三代礦物參 數自動定量分析系統。該系統與高分辨率掃描電子...
AMICS-OilGas礦物特征自動定量分析系統 參考價：面議
AMICS-OilGas礦物特征自動定量分析系統作為一個為石油、天然氣行業、地質科研、生產打造的巖芯、巖屑特征的定量分析工具， AMICS-Oil&Gas自動礦...
ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣 參考價：面議
ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣,為 ALTO 冷凍掃描電鏡系統而設計的撞擊式冷凍制樣設備，提供了樣品載體和樣品載臺，它們可以放置在 A...
Gatan氬離子拋光系統Ilion II 697 參考價：面議
Gatan氬離子拋光系統Ilion II 697，可利用IlionII進行拋光加工的材料種類十分廣泛，包括由多元素組成的試樣，以及具有不同的機械硬度、尺寸和物理...
SOLARUS （955）Plasma等離子清洗儀 參考價：面議
SOLARUS （955）Plasma等離子清洗儀，去除碳氫化合物對TEM和SEM樣品臺或樣品的污染，*的清洗解決方案，它利用等離子配方，對于所有的樣品，包括H...
BRIGHT KAS-2000F離子濺射儀 參考價：面議
BRIGHT KAS-2000F離子濺射儀，針對SEM/TEM開發出的產品，它可以對不導電樣品進行噴鍍，使導電性不理想的樣品也能夠在SEM/TEM中進行觀測。
場發射掃描電鏡 參考價：面議
Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發射掃描電鏡搭載*的實時元素成像功能和先進的自動光學系統，實現灰色區域解析，讓您不再憂心顯微鏡...
PFIB顯微鏡 參考價：面議
PFIB顯微鏡較快的材料去除率和較高的切割面質量，是毫米尺度范圍納米分辨率下較快的高質量亞表面和三維表征設備。
FIB雙束掃描電鏡 參考價：面議
Helios 5 DualBeam FIB雙束掃描電鏡經過精心設計，可滿足材料科學研究人員和工程師對廣泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是具挑戰性的樣品。
FIB顯微鏡 參考價：面議
FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統，可為的廣泛類型的樣品，包括磁性和不導電材料提供出色的...
FIB雙束掃描電鏡 參考價：面議
Scios 2 DualBeam FIB雙束掃描電鏡系統創新性的功能設計，優化了樣品處理能力、分析精度和易用性，是滿足科學家和工程師在學術和工業環境中進行高級研...
透射電鏡 參考價：面議
Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 透射電鏡是賽默飛用于高分辨率成像和分析應用的場發射掃描/透射電子顯微鏡，其電壓范圍為20...
場發射掃描/透射電子顯微鏡 參考價：面議
Thermo Scientific Talos F200S G2 200kV場發射掃描/透射電子顯微鏡（S/TEM）結合快速、多通道、高分辨率S/TEM 成像和...
STEM透射電鏡 參考價：面議
Thermo ScientificTM TalosTM F200X STEM透射電鏡提供快速、準確的納米材料多尺度表征，配備多種創新功能以提高效率、精度與易用性...
透射掃描電子顯微鏡 參考價：面議
Talos L120C 透射掃描電子顯微鏡是 Tecnai Spirit 的后繼者，一種具有全新設計和操作概念的新型 120 kV 掃描/透射電子顯微鏡（S/T...
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