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白光干涉工件表面3D形貌儀 參考價：960000
中圖儀器SuperViewW白光干涉工件表面3D形貌儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。它具有測量精度高、操作便捷、功能...
白光干涉3D表面形貌儀 參考價：960000
SuperViewW白光干涉3D表面形貌儀基于白光干涉原理，結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，以3D非接觸方式測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。典型結...
白光干涉儀攻克跨反射率與車間振動難題 參考價：960000
SuperViewW1系列白光干涉儀攻克跨反射率與車間振動難題，設備用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參...
納米級白光干涉光學輪廓儀 參考價：960000
SuperViewW納米級白光干涉光學輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉...
白光干涉儀批量檢測122μm大孔徑陣列 參考價：960000
SuperVIewW白光干涉儀批量檢測122μm大孔徑陣列具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內，確保...
白光干涉儀測量摩擦磨損形貌 參考價：960000
SuperViewW白光干涉儀測量摩擦磨損形貌，設備是以白光干涉技術為原理，結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，...
白光干涉3D形貌儀 參考價：960000
SuperViewW白光干涉3D形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。其特殊光源模式...
白光干涉儀半導體薄膜檢測 參考價：960000
SuperViewW白光干涉儀半導體薄膜檢測系統通過干涉物鏡產生干涉條紋，使基本的光學顯微鏡系統變為白光干涉輪廓儀。它能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的...
中圖儀器chotest白光干涉儀 參考價：960000
中圖儀器chotest白光干涉儀用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。它以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，可測各類從超光滑到...
白光干涉表面3D輪廓儀 參考價：960000
SuperVirewW白光干涉表面3D輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉...
國產白光干涉儀品牌 參考價：960000
SuperViewW國產白光干涉儀品牌是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法...
白光干涉儀微孔陣列批量統計 參考價：960000
SuperViewW1白光干涉儀微孔陣列批量統計，設備基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸，單一掃描模式即可滿足從超光滑到粗...
白光干涉儀超薄介質膜檢測 參考價：960000
中圖儀器SuperViewW1系列白光干涉儀超薄介質膜檢測以白光干涉技術為原理，對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌...
白光干涉儀LED刻蝕表面三維測量 參考價：960000
SuperViewW1系列白光干涉儀LED刻蝕表面三維測量，3D重建算法自動濾除樣品表面噪點，在硬件系統的配合下，測量精度可達亞納米級別。不通倍率的鏡頭，適應于...
中圖儀器桌面掃描電鏡檢測結構陶瓷微觀 參考價：1200000
CEM3000系列中圖儀器桌面掃描電鏡檢測結構陶瓷微觀用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。其抗振設計，在充滿機械振動和噪音的工業環境中依舊穩如泰山，拍攝出清晰...
SEM掃描電鏡 參考價：1200000
中圖儀器SEM掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿足用戶對多類型樣品的觀測...
桌面式掃描電子顯微鏡 參考價：1200000
CEM3000系列桌面式掃描電子顯微鏡標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現微觀的形貌和...
國產桌面掃描電鏡 參考價：1200000
CEM3000國產桌面掃描電鏡是一款用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析的緊湊型設備。不同于立式電鏡，CEM3000系列臺式掃描電鏡無需占據大量空間來容納整個電...
小型桌面式掃描電鏡 參考價：1200000
CEM3000系列小型桌面式掃描電鏡是一款用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析的緊湊型設備。在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散...
中圖儀器桌面掃描電鏡 參考價：1200000
CEM3000系列中圖儀器桌面掃描電鏡在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿足用戶對多類型...
桌上臺式掃描電鏡 參考價：1200000
CEM3000系列桌上臺式掃描電鏡主要用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。不同于立式電鏡，CEM3000系列臺式掃描電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這...
白光干涉儀測相變智能材料微觀表征 參考價：960000
SuperView W1白光干涉儀測相變智能材料微觀表征，無需導電處理、無需抽真空，放上去直接測。一臺設備覆蓋從納米級軟物質到硬脆半導體的全場景表征需求，是材料...
白光干涉儀非接觸光學檢測微觀形貌 參考價：960000
SuperView W1白光干涉儀非接觸光學檢測微觀形貌，0.1nm垂向分辨率，精準捕捉相變前后的微納米級形貌變化。
高抗振性掃描電鏡 參考價：1200000
中圖儀器CEM3000系列高抗振性掃描電鏡是一款用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析的緊湊型設備。該系列電鏡也可通過加裝各類探頭和附件，滿足用戶的拓展性需求，這...
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