PLR3000光纖激光尺 光通信亞微米檢測專用。在高速光通信、AI服務器光互連領域，V槽基板檢測需滿足間距誤差≤±0.1μm、深度誤差≤±0.5μm的嚴苛標準，PLR3000光纖激光尺專為這類超精密場景打造。

設備可適配V槽基板檢測、光纖陣列FA耦合定位、半導體光刻工作臺、超精密機床閉環控制、航空航天構件測量等核心場景，支持X/Y/Z三軸同步位移監測。

依托熱源隔離設計與小巧探頭，可嵌入設備狹小空間，降低阿貝誤差；搭配全環境實時補償，在車間復雜工況下仍保持實驗室級測量精度，是檢測設備國產化的核心部件。

工業級精準參數｜PLR3000光纖激光尺 定義亞微米級測量標準

PLR3000光纖激光尺依托激光干涉核心技術，以硬核參數直擊光通信檢測精度痛點：

1.超高穩頻精度：PLR3200 PRO款達0.02ppm，1米行程頻率波動誤差僅0.02μm；

2.測量精度：線性測量精度0.2~0.5ppm，100mm測量距離誤差低至0.05μm；

3.納米級分辨率：相位細分技術實現1nm分辨率，標準輸出10nm，滿足亞微米檢測冗余；

4.熱源隔離設計：3米鎧裝光纖分離主機與探頭，探頭無熱源，溫漂50nm/℃；

5.全環境補償：內置氣象站實時補償溫/壓/濕度，適配10~40℃工業全工況；

6.多軸兼容擴展：支持單/雙/三軸輸出，可拓展多探頭，高速動態測量不丟幀；

PLR3000光纖激光尺 光通信亞微米檢測專用，所有參數均為工業級實測，為光通信、半導體設備提供底層精準計量基準。

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注：產品參數與配置以實際交付為準，中圖儀器保留根據技術升級調整相關內容的權利，恕不另行通知。