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S neox白光干涉儀技術(shù)的工作原理與特點(diǎn)
發(fā)布時(shí)間:2026-03-16
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白光干涉儀,也稱白光掃描干涉儀或相干掃描干涉儀,是一種用于非接觸式三維表面形貌測(cè)量的光學(xué)技術(shù)。它在微觀尺度表面計(jì)量領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。理解其基本工作原理和特點(diǎn),有助于用戶根據(jù)實(shí)際測(cè)量需求選擇合適的儀器。以Sensofar S neox系統(tǒng)所采用的技術(shù)為例,可以一窺白光干涉測(cè)量的方式。