
在高分子材料改性研究中,原位觀察溫度變化對(duì)晶體形態(tài)的影響十分關(guān)鍵。為此,材料研究所引入 徠卡 Visoria M材料顯微鏡,并外接溫控單元組成材料顯微觀測(cè)系統(tǒng),以滿足對(duì)溫度敏感樣品的連續(xù)監(jiān)測(cè)需求。
本次試驗(yàn)選取通用改性聚酯材料,將微量樣品置于密封溫控腔體中,并設(shè)置勻速升溫、恒溫與勻速降溫三組程序。該設(shè)備具備材料顯微鏡的雙光路設(shè)計(jì),針對(duì)高分子半透明樣品可利用透射光路呈現(xiàn)球晶輪廓,而在含無機(jī)填料的區(qū)域則可切換至反射光路觀察填料分散狀態(tài)。作為徠卡 Visoria M材料顯微鏡,其機(jī)身采用模塊化設(shè)計(jì),可疊加偏光組件以區(qū)分高分子無定形區(qū)與結(jié)晶區(qū)的邊界,并記錄不同恒溫時(shí)段球晶的生長(zhǎng)尺寸。操作人員可分時(shí)段捕捉顯微圖像,并由軟件整合生成結(jié)晶變化序列圖,進(jìn)而對(duì)比不同改性配方的結(jié)晶速率差異。整套設(shè)備可在放大倍率切換時(shí)自動(dòng)匹配光路光強(qiáng),無需手動(dòng)調(diào)節(jié)亮度,大幅縮短了單組樣品的試驗(yàn)耗時(shí)。此外,腔體的密封結(jié)構(gòu)可通入惰性保護(hù)氣體,避免高溫下高分子氧化對(duì)觀測(cè)結(jié)果造成干擾,從而拓展了材料試驗(yàn)的種類與適用范圍。
借助徠卡 Visoria M材料顯微鏡,高分子結(jié)晶試驗(yàn)成功完整記錄了變溫條件下的晶體演變圖像,為改性配方優(yōu)化與成型溫度設(shè)定提供了微觀層面的試驗(yàn)支撐,能夠長(zhǎng)期適配材料基礎(chǔ)研究的各項(xiàng)工作需求。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)