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在材料檢測(cè)與研發(fā)中,科研人員常常面臨一個(gè)抉擇:用掃描電鏡(SEM)看清樣品形貌后,若想進(jìn)一步分析其成分、缺陷或發(fā)光特性,往往需要切換模式、更換探測(cè)器,甚至動(dòng)用另一臺(tái)專用設(shè)備。這個(gè)過程耗時(shí)耗力,還可能丟
JEOL冷凍電鏡成功觀測(cè)到蛋白質(zhì)中的氫原子、電荷及化學(xué)鍵日本理化研究所、東北大學(xué)和JST(科學(xué)技術(shù)振興機(jī)構(gòu))的科學(xué)家們利用JEOLCryoARM300冷凍電子顯微鏡以1.19埃的分辨率,成功觀測(cè)到蛋白
第20屆國(guó)際顯微鏡學(xué)會(huì)于今年9月10日-15日在韓國(guó)釜山的BEXCO舉行。JEOL攜帶涵蓋各領(lǐng)域的新技術(shù)和實(shí)用技術(shù)的有用信息出展IMC20,并布置各種產(chǎn)品信息板塊:半導(dǎo)體用JEM-ACE200F-TE
在電子電器、五金加工、汽車零部件等制造業(yè)領(lǐng)域,管控鉛、鎘、汞、六價(jià)鉻等有害重金屬,滿足ROHS環(huán)保指令合規(guī)要求,是產(chǎn)品出廠、供應(yīng)鏈準(zhǔn)入bu不可少的檢測(cè)環(huán)節(jié)。長(zhǎng)期以來,行業(yè)普遍依賴傳統(tǒng)濕化學(xué)檢測(cè)方法完成
在電子制造業(yè)、材料檢測(cè)行業(yè)的質(zhì)量管控體系中,ROHS金屬成分分析儀是把控產(chǎn)品有害物質(zhì)合規(guī)性的核心設(shè)備,其檢測(cè)數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)、穩(wěn)定,直接關(guān)系到產(chǎn)品是否符合環(huán)保管控標(biāo)準(zhǔn),也是企業(yè)規(guī)避質(zhì)檢風(fēng)險(xiǎn)、保障產(chǎn)品品質(zhì)的關(guān)
傳統(tǒng)生物電鏡觀測(cè),通常需要對(duì)樣品進(jìn)行重金屬染色來提升成像反差,繁瑣的制樣步驟易破壞生物原始結(jié)構(gòu)。JEOL低電壓電鏡憑借獨(dú)特成像技術(shù),實(shí)現(xiàn)生物樣品免染色觀測(cè),為生命科學(xué)研究帶來全新解決方案。該設(shè)備依托低
在材料分析、半導(dǎo)體檢測(cè)、金屬研發(fā)等領(lǐng)域,樣品截面制備質(zhì)量直接決定后續(xù)觀測(cè)與分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。截面拋光儀與傳統(tǒng)機(jī)械制樣是當(dāng)前主流的兩種制樣方式,二者在核心原理、制樣效果、適用場(chǎng)景等方面差異顯著,選型時(shí)需
截面拋光儀作為材料微觀分析的關(guān)鍵制樣設(shè)備,憑借非接觸式加工、低損傷、高平整的獨(dú)特優(yōu)勢(shì),突破傳統(tǒng)機(jī)械拋光的局限,可適配金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、聚合物、復(fù)合材料、地質(zhì)礦物、生物材料及電子元器件等多類樣品,為掃
掃描電子顯微鏡(SEM)通過聚焦高能電子束掃描樣品表面,利用電子與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的信號(hào)進(jìn)行成像與分析。其工作原理可分為四個(gè)步驟:首先,電子槍發(fā)射電子束,經(jīng)電磁透鏡聚焦形成納米級(jí)細(xì)束;其次,掃描線圈控
在微觀觀測(cè)領(lǐng)域,臺(tái)式掃描電子顯微鏡憑借緊湊的體積、便捷的操作和*的功能,成為科研、工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域的核心設(shè)備。與傳統(tǒng)大型掃描電鏡相比,它無需占用龐大空間,可靈活放置于實(shí)驗(yàn)室桌面甚至產(chǎn)線旁,在保留高分辨率
真空系統(tǒng)故障故障現(xiàn)象真空度無法達(dá)到要求,儀器無法正常啟動(dòng)或運(yùn)行中真空度突然下降。原因分析可能是真空泵故障,如油位不足、油質(zhì)污染、泵體磨損;密封圈老化、破損導(dǎo)致漏氣;真空管道堵塞或有異物。解決方案檢查真
實(shí)驗(yàn)選用市售Pd納米粒子作為樣品,甲烷(CH4)和氧氣(O2)作為反應(yīng)氣體,在25到960°C的加熱過程中用TEM和MS分別對(duì)樣品形態(tài)結(jié)構(gòu)及氣相產(chǎn)物進(jìn)行觀察分析。Table1顯示了每個(gè)設(shè)備的測(cè)量條件。結(jié)果Figure2顯示了原位樣品桿的加熱程序(中)、對(duì)應(yīng)的TEM圖像(上)及m/...
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