介電溫譜/頻譜測試系統用于研究材料（如塊體、薄膜等）的介電性能（介電常數、損耗因子等）隨溫度（溫譜）和頻率（頻譜）的變化規律。該系統核心組件包括LCR電橋、探針冷熱臺及專用測試軟件，可精準測量并分析材料在不同溫度和不同頻率下的介電特性。

介電溫譜、頻譜測試系統硬件配置：

1、電橋LCR（keysight、同惠、日置、穩科等各類品牌產品）

2、探針冷熱臺（CH600-190-P4等型號）

介電溫譜、頻譜測試系統規格參數：

1、溫度范圍：-190~600℃ / RT~1000℃（選型）

2、溫度穩定性：±0.1℃

3、冷熱方式：液氮致冷，電阻加熱

4、載樣臺材質：銀質

5、載樣臺尺寸：23mm*23mm

6、腔體環境：氣密/真空

7、探針材質及數量：紫銅鍍金或鎢鋼鍍金，4或8個（選型）