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在電子元件包裝領(lǐng)域,剝離強度是衡量載帶性能的關(guān)鍵指標,直接影響元件的存儲和運輸可靠性。日本EPI株式會社憑借多年技術(shù)積累,開發(fā)出一系列剝離強度檢測設(shè)備,包括基礎(chǔ)型、高速型及靜電檢測型,覆蓋從常規(guī)檢測到高的端模擬測試的多樣化需求。

穩(wěn)定性能:采用獨特剝離機構(gòu),確保剝離角度恒定,提升數(shù)據(jù)重現(xiàn)性;支持120-300mm/min速度調(diào)節(jié),符合JIS標準。
智能分析:內(nèi)置液晶觸控屏,可輕松設(shè)置測試條件;自動統(tǒng)計最的大的值、最小值、平均值、標準差及CPK值,簡化批次管理。
便捷操作:支持日/英/中多語言界面,單位可在gf/N間自由切換;USB數(shù)據(jù)導出功能,便于PC端深度分析。
高速性能:送帶速度最的高的達15m/min,支持連續(xù)動作與步進送帶雙模式,精準復現(xiàn)貼片機工作狀態(tài)。
深度分析:模擬輸出接口支持數(shù)據(jù)實時采集,結(jié)合變速功能(120mm-15m/min),兼顧JIS標準與定制化需求。
綜合能力:在保持15m/min高速性能的同時,集成靜電傳感器,支持步進送帶模式,滿足高的端的電子元件的品控要求。
靈活適配:延續(xù)EPI設(shè)備的定制化傳統(tǒng),可根據(jù)客戶特殊需求調(diào)整參數(shù),適配不同生產(chǎn)環(huán)境。
定制化能力:所有設(shè)備支持按需開發(fā),適配特定測試場景。
數(shù)據(jù)完整性:內(nèi)置完整數(shù)據(jù)管理系統(tǒng),符合工業(yè)品控追溯要求。
國際兼容性:多語言界面與JIS標準認證,支持全的球的化部署。
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