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目錄:北京鐳測科技有限公司>>應力雙折射>>相位延遲測量儀>> LP1000應力雙折射相位延遲測量儀
| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合 |
LP1000相位延遲測量儀是鐳測可溯源雙折射測量主力機型，主要用于精密標定，可精準測量各類光學元件的內應力與相位延遲量。
適配光學波片、光學玻璃、顯示屏面板、晶體等透光材料檢測，系統配套專業位移平臺、溫度補償模塊，可定制非標掃描測量方案。
基準可溯源：測量量值溯源至激光波長國家長度基準，數據可計量、可校驗，解決傳統設備無校準依據痛點；
全域測量范圍：覆蓋 0°~180°全區間相位延遲，大小應力、高低相位差均可精準檢測；
多波長換算適配：633nm 標準測量波長下，可自動換算任意目標波長對應的波片相位差值；
弱透光件兼容：可完成透光性較差光學元件的應力、相位延遲檢測，適用材料范圍更廣；
高精度溫度補償：內置溫度傳感系統，實時采集樣品溫度，自動修正溫度帶來的波片相位誤差；
參數項 | LP1000 技術規格 |
標準光源波長 | 633nm（632.8nm） |
相位延遲測量區間 | 0°~180° |
測量重復精度 | 0.2° |
單測點測量速度 | ≤15s |
測量光斑尺寸 | ≤1mm |
標準工件最大尺寸 | 50mm（可定制大尺寸位移工作臺） |
整機外形尺寸 | 400×230×690mm |
工作溫度區間 | 0℃ ~ +40℃ |
鍍膜要求 | 增透膜 |
系統組成 | 激光主機、控制電箱、XY 平移臺、信號處理器、配套測控軟件 |
1光學波片精密檢測
四分之一波片、半波片、全波片、3/4 波片相位延遲批量標定與出廠質檢，科研院所波片研發校準。
2. 光學晶體 / 寶石檢測
各類人工晶體、天然寶石內部應力分布、相位延遲定量分析。
計量校準：整機年度計量校準服務，匹配國標 GB/T 26827-2011 校驗規范；
技術支持：上門安裝調試、操作人員培訓、售后遠程技術指導；
精度升級：可按需定制更高重復精度機型。
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