兩箱式冷熱沖擊試驗箱芯片半導體高低溫 參考價：10
主要用途 用于測試各種材料在瞬間下經高溫及低溫的連續環境下忍受的程度，得以在最短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。主要應用于半導體芯片、科研院...
兩箱冷熱沖擊試驗箱（水平沖擊） 參考價：10
兩箱冷熱沖擊試驗箱（水平沖擊），采用水平吊籃移動設計，在研制階段可用于發現產品設計和工藝缺陷，在有些情況下也可用于環境 應力篩選，剔除產品的早期故障。
兩箱式冷熱沖擊試驗箱 參考價：10
兩箱式冷熱沖擊試驗箱測試時樣品放在吊籃里，做高溫測試時吊籃提到高溫箱，反之做低溫試驗。
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