日本 NAPSON Duores 手持式兩用片電阻測量儀薄膜方塊電阻檢測設備

時間：2026/6/25閱讀：155

一、產品研發背景：雙模式集成便攜測阻設備的技術突破

作為日本專注電阻率、方塊電阻測量儀器研發制造的專業廠商，NAPSON 針對薄膜行業檢測場景中 “無損成品檢測" 與 “高精度研發標定" 無法兼顧的行業痛點，推出 Duores 手持式兩用片電阻測量儀，是支持兩種測量探頭自由切換的便攜式方塊電阻檢測設備。傳統薄膜檢測設備普遍存在功能單一缺陷：臺式四探針儀器測量精度高但體積龐大、無法移動，且接觸式檢測會劃傷完整成品；單一渦流無損設備無需接觸樣品，卻存在測量量程窄、微小樣品無法檢測的局限。Duores 從硬件模塊化底層設計入手，將渦流無損檢測、四探針接觸檢測兩套獨立測量系統整合至同一手持主機，一套設備覆蓋實驗室新材料研發、產線在線巡檢、成品出廠全檢全流程需求，便攜雙模式薄膜方塊電阻檢測設備的市場空白。

整套設備由手持主控本體、渦流無損探頭、四探針接觸探頭三大獨立模塊組成，模塊間采用專用工業通訊插接接口，更換探頭后設備可自動識別探頭類型，同步切換對應的測量算法、量程區間與數據換算邏輯，無需人工進入后臺修改設備參數，大幅降低設備操作門檻，適配產線一線質檢人員、實驗室研發工程師兩類使用人群。

二、硬件輕量化工程設計：適配全場景移動檢測需求

Duores 整套設備充分兼顧便攜性與工業耐用性，各組件尺寸、重量經過人體工學優化設計，適配長時間手持作業。手持單元本體尺寸為寬 100mm× 深 32mm× 高 210mm，不含電池自重僅 350g，窄型機身可輕松單手握持，即便連續數小時流水線巡檢也不會產生手部疲勞；供電系統搭載低功耗控制電路，滿電狀態下可實現 24 小時不間斷持續測量，滿足工廠全天不間斷質檢作業需求。

兩款功能探頭采用分體獨立設計，規格參數區分明確，適配差異化測量工況：無損渦流探頭尺寸 70×20×70mm，重量 170g，更大的探頭基底保障 φ25mm 大面積均勻光斑輸出，適合整版薄膜大面積平均方阻檢測；接觸式四探針探頭尺寸 40×15×50mm，自重僅 85g，微型化機身可伸入狹小工裝、窄幅導電線路、小型試樣內部完成定點檢測。設備銷售模式靈活，支持主機搭配單一探頭成套采購，企業可根據自身檢測品類、工序需求選擇性配置，避免設備功能冗余造成采購成本浪費。

三、兩種測量探頭核心技術原理與量程適配邊界

（1）渦流無損探頭：非接觸式零損傷成品檢測方案

渦流探頭依托電磁感應渦流檢測原理工作，探頭內部勵磁線圈輸出交變磁場，磁場穿透表層導電薄膜后在膜層內部激發閉合渦流回路，渦流反向形成二次磁場被接收線圈采集，設備通過磁場損耗差值精準換算薄膜方塊電阻數值，全程無任何硬質部件接觸樣品表面，真正實現無損檢測。

該探頭有效測量光斑直徑為 25mm，測量量程區間 0.5~200Ω/□，要求待測樣品長寬、厚度均大于 25mm 光斑尺寸，適合完整無裁切成品工件檢測，典型應用場景包含 LOW-E 低輻射鍍膜玻璃、成品 ITO 觸控面板、石墨烯柔性導電膜等易刮傷工件，檢測后樣品可直接流入下一道工序，不存在樣品裁切報廢損耗，大幅降低量產質檢物料成本。

（2）四探針接觸探頭：高精度寬量程研發標定方案

接觸式四探針探頭遵循行業通用 Van der Pauw 測量算法與 ASTM F43 測試標準，四根硬質合金探針保持固定 3mm 等間距排布，整體測量點位尺寸 9mm，外側兩根探針通入恒定直流電流，內側兩根探針采集膜層電壓差值，從算法層面消除探針接觸電阻帶來的測量誤差，實現超高精度方阻讀數。

探頭測量量程覆蓋 0.001~4000Ω/□，跨 5 個數量級寬量程覆蓋高阻、低阻各類導電薄膜，微小 9mm 測量光斑可針對局部鍍層、窄線路、小型試樣開展精細化定點檢測，多用于新材料配方研發、鍍膜涂布工藝參數調試、半成品抽樣性能標定，可精準捕捉膜厚微小波動帶來的方塊電阻變化，為工藝優化提供精準量化數據支撐。

四、寬品類樣品兼容體系：覆蓋主流導電薄膜檢測場景

Duores 手持式方塊電阻檢測儀無嚴苛的樣品厚度、外形限制，僅需滿足對應探頭的光斑尺寸閾值，即可完成電學性能檢測，兼容玻璃基底、PET 柔性基底、陶瓷基底、金屬基板等各類基材上的導電薄膜。設備適配檢測材料品類覆蓋當下薄膜產業主流產品：一是 ITO、TCO 氧化物透明導電薄膜，適配顯示、光伏面板制程檢測；二是建筑節能領域低輻射鍍膜玻璃，渦流無損探頭可直接檢測完整中空玻璃成品；三是碳基新型導電材料，碳納米管、石墨烯復合導電薄膜；四是金屬導電涂層，納米銀線、金屬柵格、導電網格等金屬薄膜。只要樣品方塊電阻落在兩款探頭對應量程范圍內，均可完成穩定、精準的定量檢測，橫跨光伏、平板顯示、建筑玻璃、柔性電子、新材料研發五大行業。

五、數字化數據采集存儲系統，支撐品質追溯與工藝分析

設備搭載專業級數據處理單元，顯示屏支持 Ω/□、S/□、n/m 三種行業專用單位切換，可直接完成金屬薄膜厚度自動換算，4 位浮點顯示區間 0.000~9999，能夠分辨極細微的電阻數值波動，省去人工換算步驟，提升研發、質檢數據處理效率。

數據存儲分為兩級架構：機身本地緩存可快速調取最近 100 組測量數據，現場無需連接電腦即可復核測點數據；整機內置存儲芯片最大可保存 50000 條原始測量記錄，通過 USB-Mini 數據接口連接配套專用分析軟件，實現批量數據導出、統計、曲線繪制，自動生成工藝良率報表，滿足工廠數字化品質追溯管理需求。設備采用自動感應式單點測定，探頭貼合樣品瞬間自動觸發測量，無需手動按鍵操作，簡化批量檢測操作流程，提升產線檢測效率。

六、設備綜合技術優勢與產業應用價值

相較于傳統臺式單模式方塊電阻檢測設備，日本 NAPSON Duores 手持式兩用片電阻測量儀核心優勢集中于雙模式集成、便攜無損、寬量程高精度、數字化存儲四大維度。在實際薄膜生產工藝中，設備可貫穿全生產鏈路：鍍膜工序研發調試階段，使用四探針探頭精準標定工藝參數，優化涂布、濺射工藝；成品出廠質檢階段，更換渦流探頭無損批量篩查，規避物料損耗；外出樣品抽檢、跨車間巡檢時，手持輕量化機身可實現隨取隨測，大幅縮短工藝反饋周期。

依托 NAPSON 長期深耕電阻率測量設備領域的技術積累，整機屏蔽線纜、抗靜電外殼、自動算法匹配等細節設計充分適配工廠強電磁、多粉塵復雜工況，測量數據穩定無漂移，是薄膜方塊電阻檢測領域兼顧研發與量產、無損與高精度需求的標準化便攜式檢測設備。

日本 NAPSON Duores 手持式兩用片電阻測量儀薄膜方塊電阻檢測設備

會員登錄

收藏該商鋪

提示

日本 NAPSON Duores 手持式兩用片電阻測量儀 薄膜方塊電阻檢測設備

會員登錄

收藏該商鋪

提示

日本 NAPSON Duores 手持式兩用片電阻測量儀薄膜方塊電阻檢測設備