日本nittoseiko玻璃薄膜測量低電阻率計
低阻區(qū) 10??–10? Ω:采用恒流四探針法(JIS K 7194),標配 ASR 探頭,可測導電塑料、ITO 薄膜、導電油墨/漿料、金屬鍍層等 。
高阻區(qū) 10³–10¹? Ω:切換恒壓雙環(huán)電極法(JIS K 6911),選配 URS/UR 系列探頭,可測防靜電薄膜、工程塑料、涂料、陶瓷等。
日本nittoseiko玻璃薄膜測量低電阻率計
日本nittoseiko玻璃薄膜測量低電阻率計
雙模式一體
超寬電壓與掃描功能
1 V–1000 V 共 29 檔施加電壓,內置“自動電壓掃描"模式,可一次性繪制電阻-電壓曲線,便于研究材料的非線性或擊穿特性
。
一鍵全自動測量
7.5 英寸彩色觸控屏,按“START"后自動選擇電流/電壓、極性反轉、穩(wěn)定判定、保持數(shù)據(jù)并停止,支持 Timer/Auto-hold 兩種定時模式
。
硅片專用模式
改變電流極性并計算平均值,可扣除熱電勢,對硅晶圓、鍺等半導體晶片進行低接觸誤差測量
。
探頭系列豐富
低阻側:ASR、LSR、ESR、PSR、QR 等 9 種探針,針距 1.5–10 mm,適應薄膜、軟材、小樣品或曲面
。
高阻側:URS、UR-SS、UR-100、UA 及 J-Box X 型雙環(huán)電極,保證 101? Ω 量級穩(wěn)定測量
。
數(shù)據(jù)管理與追溯
內置開關盒(Switching Box)
精度與分辨率
電源與連續(xù)運行
AC 85–264 V 全球電壓;
可選 Ni-MH 電池包,現(xiàn)場無電源亦可半日以上連續(xù)運行
。
典型應用
導電/防靜電薄膜、包裝材、EMI 屏蔽材;
鋰離子電池隔膜、導電膠、碳紙;
硅片、化合物半導體、ITO/金屬網格玻璃;
汽車/電子部件的靜電管理與失效分析