| 應(yīng)用領(lǐng)域 |
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日本jeol實驗室臺式自動掃描電子顯微鏡
導(dǎo)航式操作,降低學(xué)習(xí)成本
緊湊設(shè)計:節(jié)省空間,適合各種實驗室環(huán)境
自動化程度高:支持無人值守操作
分析集成:觀察與元素分析同步進行
高精度樣品臺:5軸電機驅(qū)動,定位精準(zhǔn)
日本jeol實驗室臺式自動掃描電子顯微鏡
日本jeol實驗室臺式自動掃描電子顯微鏡
新開發(fā)的樣品臺實現(xiàn)5軸全電機驅(qū)動,使用更加安心且快速。
此外,新搭載的"Simple SEM"功能,只需選擇視野即可自動獲取觀察和分析數(shù)據(jù)。JSM-IT210是緊湊型、可實現(xiàn)無人操作的新一代SEM。
主要特點
1. 樣品交換導(dǎo)航功能 - "放入樣品,無需猶豫即可觀察"
三步操作流程:
按照樣品交換導(dǎo)航插入樣品
利用真空排氣時間進行觀察準(zhǔn)備
自動開始觀察
Zeromag功能 - "光學(xué)圖像放大即為SEM圖像"
Zeromag是樣品臺圖形、光學(xué)圖像與SEM圖像聯(lián)動的功能。
在樣品臺上設(shè)置多個樣品或觀察特定部位時,尋找視野變得更加容易。
*需要樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)(可選)進行光學(xué)圖像拍攝
3. Live Analysis功能 - "觀察中隨時進行元素分析"
Live Analysis是持續(xù)顯示特征X射線光譜和元素圖的功能。
在觀察的同時可以尋找目標(biāo)元素。
*適用于A(分析)/LA(低真空&分析)型號
4. Simple SEM功能 - "多樣化的自動測量"
Simple SEM是只需設(shè)置想要觀察的視野,即可輕松進行自動拍攝的功能。
自動測量支持功能:
5. 大口徑EDS系統(tǒng) - "分析更快速"
標(biāo)配60 mm2大口徑EDS(適用于A/LA型號)
性能優(yōu)勢:
分析速度快:短時間內(nèi)可獲得與傳統(tǒng)EDS同等質(zhì)量的光譜,多點分析更高效
熱敏感樣品安心:傳統(tǒng)EDS需要大電流,可能造成熱損傷;60 mm2 EDS可在降低電流下進行元素分析,抑制熱損傷
短時間清晰元素圖:即使測量時間僅1分鐘,也能獲得清晰的元素圖
實測案例:
樣品:石鐵隕石
加速電壓:15 kV
測量時間:1分鐘
結(jié)果:元素圖清晰可辨
技術(shù)亮點
緊湊型設(shè)計
JEOL緊湊型臺式SEM
節(jié)省實驗室空間
適合各種工作環(huán)境
5軸電機驅(qū)動樣品臺
全軸電機驅(qū)動,操作更精準(zhǔn)
提高樣品定位精度
支持復(fù)雜自動測量程序
智能化操作
導(dǎo)航式操作流程
自動功能減少人為誤差
適合新手和經(jīng)驗豐富的用戶
集成分析功能
應(yīng)用領(lǐng)域
材料科學(xué):金屬、陶瓷、復(fù)合材料表面形貌觀察
生命科學(xué):生物樣品、細胞結(jié)構(gòu)觀察
半導(dǎo)體工業(yè):芯片、器件表面缺陷檢測
納米技術(shù):納米材料形貌表征
失效分析:產(chǎn)品表面缺陷和污染分析
地質(zhì)礦物:巖石、礦物樣品成分分析
質(zhì)量控制:工業(yè)產(chǎn)品表面質(zhì)量檢測
產(chǎn)品優(yōu)勢
操作簡便:導(dǎo)航式操作,降低學(xué)習(xí)成本
緊湊設(shè)計:節(jié)省空間,適合各種實驗室環(huán)境
自動化程度高:支持無人值守操作
分析集成:觀察與元素分析同步進行
高精度樣品臺:5軸電機驅(qū)動,定位精準(zhǔn)
大口徑EDS:標(biāo)配60 mm2 EDS,分析更高效
多視野測量:自動連續(xù)測量多個區(qū)域
圖像聯(lián)動:光學(xué)圖像與SEM圖像無縫切換