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當前位置：深圳秋山工業設備有限公司>>外觀分析設備>>檢測儀>> TypeL-ⅡAStoyoseiko正電子壽命測定裝置缺陷檢測儀
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,電氣 |
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toyoseiko正電子壽命測定裝置缺陷檢測儀
toyoseiko正電子壽命測定裝置缺陷檢測儀
檢測能力：可實現亞納米級（原子級別） 微小缺陷、空隙的精準評估，為材料微觀結構分析提供依據；
測量深度：針對鋼材，可檢測表面至約 50μm 深度的缺陷；
核心優勢：非接觸、非破壞性檢測，且無需專業放射操作資格，可在普通實驗室使用。
適用材料：鋼鐵、鋁、鈦等各類金屬，以及玻璃、高分子等非晶質材料；
典型用途：可用于金屬噴丸處理的品質確認、金屬疲勞損傷的評估，也可拓展至半導體、電池材料的原子缺陷檢測、高分子材料的自由體積評估等場景。
反符合（AC）系統：可辨別試樣另一側釋放的正電子信號，無需將放射源夾在試樣中間，單塊試樣也可測量，同時簡化放射源操作，提升使用安全性；
自動設置系統：程序自動完成測量所需參數設定，完成后可立即啟動測量，且能自動完成初步解析，操作便捷；
安全的放射源：使用符合《放射線障害防止法》規限值的密封 Na-22 正電子源（~1 MBq），無特殊使用資質要求。
| 型號 | 本體尺寸（mm） | 重量 | 特色 |
|---|---|---|---|
| TypeL-ⅡAS（自動進樣款） | 490×490×350 | 約 50kg | 配 4/8 個 50×50mm 試樣夾具，支持批量試樣檢測 |
| TypeL-Ⅱ（基礎款） | 400×400×358 | 25kg | 小型精密，適配研究開發現場的小試樣高精度測量 |
| TypeL-P（便攜款） | 120×120×100 | 約 2kg | 超小超輕，筆記本電腦為選配，適配現場快速檢測 |
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