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產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	化工,電子/電池,鋼鐵/金屬,電氣

toyoseiko電池材料原子缺陷檢測儀非接觸式

正電子壽命測定裝置（PSA），該設(shè)備依托正電子壽命測定法實(shí)現(xiàn)原子級微觀缺陷檢測，且符合 ISO/TS23878 國際標(biāo)準(zhǔn)，核心信息如下：

一、產(chǎn)品核心定位與能力

檢測能力：可實(shí)現(xiàn)亞納米級（原子級別）微小缺陷、空隙的精準(zhǔn)評估，為材料微觀結(jié)構(gòu)分析提供依據(jù)；
測量深度：針對鋼材，可檢測表面至約 50μm 深度的缺陷；
核心優(yōu)勢：非接觸、非破壞性檢測，且無需專業(yè)放射操作資格，可在普通實(shí)驗(yàn)室使用。

二、適用范圍

適用材料：鋼鐵、鋁、鈦等各類金屬，以及玻璃、高分子等非晶質(zhì)材料；
典型用途：可用于金屬噴丸處理的品質(zhì)確認(rèn)、金屬疲勞損傷的評估，也可拓展至半導(dǎo)體、電池材料的原子缺陷檢測、高分子材料的自由體積評估等場景。

三、檢測原理

通過精準(zhǔn)測量正電子產(chǎn)生時(shí)釋放的 γ 射線與正電子和電子對湮滅時(shí)釋放的 γ 射線的時(shí)間差（正電子壽命），判斷材料缺陷情況；材料內(nèi)空孔缺陷越多、位錯(cuò)密度越高，正電子壽命越長，以此實(shí)現(xiàn)缺陷的定量與定性分析。

四、核心技術(shù)與系統(tǒng)優(yōu)勢

反符合（AC）系統(tǒng)：可辨別試樣另一側(cè)釋放的正電子信號，無需將放射源夾在試樣中間，單塊試樣也可測量，同時(shí)簡化放射源操作，提升使用安全性；
自動(dòng)設(shè)置系統(tǒng)：程序自動(dòng)完成測量所需參數(shù)設(shè)定，完成后可立即啟動(dòng)測量，且能自動(dòng)完成初步解析，操作便捷；
安全的放射源：使用符合《放射線障害防止法》規(guī)限值的密封 Na-22 正電子源（~1 MBq），無特殊使用資質(zhì)要求。

五、產(chǎn)品型號與核心規(guī)格

設(shè)備分三款型號，滿足實(shí)驗(yàn)室精密測量、批量檢測、現(xiàn)場便攜測量等不同需求，所有型號通用規(guī)格為：測量量程 40ns，適配金屬、半導(dǎo)體、高分子材料；標(biāo)配數(shù)字示波器、專用程序，除便攜款外均標(biāo)配筆記本電腦。各型號專屬參數(shù)如下：

型號	本體尺寸（mm）	重量	特色
TypeL-ⅡAS（自動(dòng)進(jìn)樣款）	490×490×350	約 50kg	配 4/8 個(gè) 50×50mm 試樣夾具，支持批量試樣檢測
TypeL-Ⅱ（基礎(chǔ)款）	400×400×358	25kg	小型精密，適配研究開發(fā)現(xiàn)場的小試樣高精度測量
TypeL-P（便攜款）	120×120×100	約 2kg	超小超輕，筆記本電腦為選配，適配現(xiàn)場快速檢測

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二、適用范圍

三、檢測原理

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