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產品介紹
COPERNICS 用于單個芯片的動態特性測試設備
COPERNICS 用于單個芯片的動態特性測試設備
這是一款動態特性測試設備,可將功率器件作為單個芯片進行測量。
我們在晶圓檢測設備方面也擁有豐富的經驗。
高精度定位和探測技術使得僅對芯片進行動態特性(交流特性)測試成為可能。
新開發的接觸式測量方法能夠實現低損耗角正切 (Ls) 測量。
◇主要規格
| 対象素子 | N-Ch IGBT/P-MOS FET Diode |
| SW TIME | VCC:1000V IC:1000A VG:±20V |
| VCE(SUS) | VCC:1000V IC:2000A VG:±20V VCE(SUS): 2500V |
| インダクタンス | L:3μH~1mH |
| 波形取得 | D.S.O. |
| その他 | パレット供給?分類収納機能 |
※本規格僅為示例,詳情請垂詢。
| 菅原 | 測功機 | HB-20MN |
| AND愛安德 | 傳感器 | AD-4212C-6000 |
| 歐姆龍 | 傳感器 | E2B-S08KN04-WP-C2 2M OMS |
| 奧托尼克斯 | 傳感器 | PR08-2DN |
| COPAL ELECTONICS | 壓力表 | PG-35-102A-NR2 |
| 安徽歌博 | 氦質譜檢漏儀 | A100T |
| 協育 | 齒輪 | SG1.5S 30B-1515 SG1.5S 60B-1520N |
| NIKKATO日陶 | 陶瓷球 | SSA-999W ?10 15 20 |
| 池內 | 噴嘴 | BIMK 6004 S303+SNB S303 |
| SGK\YOSHITAKE\CKD | 接頭、閥門、閥門 | 0C0827-25A\GP-1001 40A\SAB1S-40F-C |
| TOMOE | 閥門 | 507v-6zb-10k-100a |
| 工進KOSHIN | 噴霧器 | GT-5HD |
| KUSUGA春日電機 | 控制器 | PAS-701S |







