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MicroSupport 顯微取樣機械臂系統描述· 提供全覆蓋和開放式型號,以滿足各種運營需求。· PC鼠標操作、顯微鏡集成的電動微操作手,實現顯微樣品的無縫搬...
近紅外顯微分光測定儀非常適合測量小樣品、球形或非球面樣品的曲面反射率。 使用斜夾具也可以進行角度測量。
L400系列超聲顯微鏡(SAT)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備,主要利用高頻超聲波,對各類半導體器件、材料進行檢測,能夠檢測出樣品內部的氣孔、裂紋...
創新型奧林巴斯無損測厚儀 38DL PLUS的機身設計堅固耐用,使用起來非常方便,而且測量結果準確可靠。這款手持式測厚儀可以有效地適用于幾乎各種超聲測厚應用,而...
H600超聲掃描顯微鏡(SAT)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備,主要利用高頻超聲波,對各類半導體器件、材料進行檢測,能夠檢測出樣品內部的氣孔、裂紋...
J300系列超聲顯微鏡(SAT)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備,主要利用高頻超聲波,對各類半導體器件、材料進行檢測,能夠檢測出樣品內部的氣孔、裂紋...
光偏振態、雙折射(RO、Rth)和穆勒矩陣的光譜測量?測量波長:400 至800 nm,分辨率:2 nm ?偏振態(斯托克斯譜)測量 ?雙折射(高達100,00...
當鏡片放入料盒后,它會被自動取出。通過對 X/Y/θ 軸進行數控(數字控制),在鏡片的外圓周表面施加鍍膜。將完成鍍膜的鏡片放回收料盒中。
Dual vision -2.0x/-8.0x 是一款雙光路、雙倍率光學系統,支持2/3英寸相機,鏡頭倍率-2.0x/-8.0x,物方分辨率1.15um,并且自...
FC UD Optics -3.0x 是一款上下對位光學系統,支持1.1英寸相機,鏡頭倍率-3.0x,物方分辨率1.15um,并且自帶同軸點光源照明,也可以集成...
Up Down Look-0.84x是一款上下對位光學系統,支持1/2.5英寸相機,鏡頭倍率-0.84x,物方分辨率6um,并且自帶同軸點光源照明,也可以集成環...
多功能通用晶圓搬運機系統YIT系列對應各種檢查裝置,適用于晶圓、玻璃相關產品自動搬運系統
顯微鏡隔振平臺VIP-320/3200系列減少對鏡頭、分析儀器等的振動。非常適合高倍觀察和顯微鏡操作。
Photron在線雙折射分布檢測系統可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統KAMAKIRI
Photron離線雙折射分布檢測系統可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統KAMAKIRI
奧林巴斯手持光譜儀可以在現場指明多種珠寶和貴金屬的特性,這些貴金屬包括金、銀、鉑、鈀等。分析儀可以根據含金純度為含金合金精確地進行分類(0到24克拉),而且還可...
奧林巴斯相控陣探傷儀OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡化的新型軟件界面。OmniScan SX是一款單組無模塊儀器,針對檢測要求較低的應用...
工業定制鏡頭是一款高分辨率遠心鏡頭,并且該光學鏡頭 帶內同軸照明接口 ,支持至大 17.6mm 靶面相機 ,鏡頭倍率- 0.345x 。物方分辨率 2um 。鏡...
AVS高速相機短波紅外相機特點:img1G-032 TEC1千兆網視覺InGaAs相機VGA分辨率以太網供電緊湊型工業級設計無風扇設計高動態范圍
up down vision光學系統,用于半導體封裝與貼合精密對位與精密檢測
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