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玉崎科學(xué)儀器（深圳）有限公司
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KOBRA-WFD0OSI王子計(jì)測(cè)相位差測(cè)量系統(tǒng)帶樣品進(jìn)給
| 參考價(jià): | ￥ 320000 |
| 訂貨量: | 1件 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- KOBRA-WFD0 產(chǎn)品型號(hào)
- 王子計(jì)測(cè)/OSI 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 深圳市 所在地
訪問次數(shù)：193更新時(shí)間：2026-05-20 15:57:16
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,制藥/生物制藥,綜合 |
|---|
OSI王子計(jì)測(cè)相位差測(cè)量系統(tǒng)帶樣品進(jìn)給
KOBRA-WFD0 是王子計(jì)測(cè) KOBRA 系列中面向長(zhǎng)卷光學(xué)薄膜的離線高精測(cè)量旗艦機(jī)型。
其憑借平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法、6 波長(zhǎng) LED與自動(dòng)送料三大核心技術(shù)，平衡了超寬測(cè)量范圍與納米級(jí)精度，是平板顯示、光學(xué)薄膜產(chǎn)業(yè)中進(jìn)行材料研發(fā)、工藝優(yōu)化與品質(zhì)管控精密分析工具
產(chǎn)品介紹
OSI王子計(jì)測(cè)相位差測(cè)量系統(tǒng)帶樣品進(jìn)給
OSI王子計(jì)測(cè)相位差測(cè)量系統(tǒng)帶樣品進(jìn)給
KOBRA-WFD0 相位差測(cè)量系統(tǒng)（帶樣品進(jìn)給）
■特征
測(cè)量方法：
平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法
測(cè)量波長(zhǎng)：
450、500、550、590、630、750nm
樣品尺寸
輪廓測(cè)量：寬度 50mm x 長(zhǎng)度（任意值），
入射角依賴性：30mm 至 40x50mm，t3 或更小
測(cè)量區(qū)域
33mm2（5.8mm 正方形：感光細(xì)胞區(qū)域）
軟件名稱：
KOBRA-DSP/FD
KOBRA-RE0
測(cè)量項(xiàng)目：
相位差分布、
入射角依賴性、
波長(zhǎng)色散特性
Oji Keisoku (王子計(jì)測(cè)，OSI) KOBRA-WFD0 是一款專為長(zhǎng)條形光學(xué)薄膜研發(fā)的高精度、自動(dòng)進(jìn)樣式光學(xué)位相差測(cè)量系統(tǒng)，核心用于薄膜的相位差、取向角、波長(zhǎng)色散及入射角依賴性分析，是光學(xué)膜研發(fā)與質(zhì)檢的設(shè)備。
一、核心技術(shù)原理
測(cè)量方法：平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法 (Parallel Nicol Rotation Method)
相比傳統(tǒng)旋轉(zhuǎn)檢偏器法，對(duì)超低相位差樣品（如 OLED 圓偏光片基材）靈敏度高。
光路穩(wěn)定性強(qiáng)，可實(shí)現(xiàn)超寬量程一次性測(cè)量，無需切換檔位。
光源系統(tǒng)：6 波段固態(tài) LED 光源
波長(zhǎng)：450 / 500 / 550 / 590 / 630 / 750 nm (±2 nm)
壽命：>20,000 小時(shí)，免維護(hù)，無需更換汞燈 / 鹵素?zé)簟?/p>
二、關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍
相位差 (Retardation)：0 ~ 20,000 nm（覆蓋從超薄膜到厚補(bǔ)償膜全量程）
取向角 (Optic Axis)：0 ~ 90°
精度指標(biāo)
相位差分辨率：0.001 nm
相位差重復(fù)性：≤ 0.03 nm (150 nm 標(biāo)樣，590 nm, 3σ)
角度分辨率：0.001°
樣品規(guī)格
輪廓測(cè)量 (Profile)：寬度 50 mm × 長(zhǎng)度任意（支持連續(xù)自動(dòng)送料）
入射角依賴測(cè)量：30 mm ~ 40×50 mm，厚度 t ≤ 3 mm
測(cè)量光斑：33 mm2 (5.8 mm 方形)
控制系統(tǒng)
專用軟件：KOBRA-DSP/FD, KOBRA-RE0
支持?jǐn)?shù)據(jù)可視化、報(bào)告導(dǎo)出、多點(diǎn)分布分析
三、產(chǎn)品核心優(yōu)勢(shì)
寬幅自動(dòng)進(jìn)樣
專為卷對(duì)卷 (Roll-to-Roll) 工藝的長(zhǎng)條形薄膜設(shè)計(jì)，支持連續(xù)、自動(dòng)化的長(zhǎng)度方向相位差分布（Profile）測(cè)量。
大幅提升檢測(cè)效率，適合產(chǎn)線抽檢與研發(fā)批量測(cè)試。
超寬量程與超高精度
單次測(cè)量覆蓋 0 至 20,000 nm，無需更換檢測(cè)器或調(diào)整增益。
對(duì)nm 級(jí)超薄薄膜（如 OLED 用 COP 膜）和μm 級(jí)厚膜（如大尺寸 LCD 補(bǔ)償膜）均具備納米級(jí)測(cè)量精度。
多功能分析能力
相位差分布 (Profile)：沿薄膜寬度 / 長(zhǎng)度方向的均勻性分析。
入射角依賴性 (Angle Dependence)：模擬不同視角下的光學(xué)表現(xiàn)。
波長(zhǎng)色散特性 (Wavelength Dispersion)：多波長(zhǎng)下的相位差變化趨勢(shì)。
四、典型應(yīng)用領(lǐng)域
顯示光學(xué)材料：相位差膜、偏光板、OLED/LED 用圓偏光片、液晶補(bǔ)償膜
高分子材料：拉伸薄膜、聚酰亞胺 (PI) 膜、COP/Cyclic Olefin Polymer 膜
研發(fā)與質(zhì)檢：光學(xué)膜材料開發(fā)、制程穩(wěn)定性監(jiān)控、來料品質(zhì)檢驗(yàn)、失效分析
五、總結(jié)
KOBRA-WFD0 是王子計(jì)測(cè) KOBRA 系列中面向長(zhǎng)卷光學(xué)薄膜的離線高精測(cè)量旗艦機(jī)型。其憑借平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法、6 波長(zhǎng) LED與自動(dòng)送料三大核心技術(shù)，平衡了超寬測(cè)量范圍與納米級(jí)精度，是平板顯示、光學(xué)薄膜產(chǎn)業(yè)中進(jìn)行材料研發(fā)、工藝優(yōu)化與品質(zhì)管控的精密分析工具。
六、采購(gòu)渠道
歡迎廣大行業(yè)客戶、合作伙伴垂詢與洽談合作：
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