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WX50/WX100/WX150/WX-IROSI王子計測長樣品相位對比測量系統(tǒng)
| 參考價: | ￥ 400000 |
| 訂貨量: | 1件 |
具體成交價以合同協(xié)議為準- WX50/WX100/WX150/WX-IR 產(chǎn)品型號
- 王子計測/OSI 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 深圳市 所在地
訪問次數(shù)：134更新時間：2026-05-20 15:56:56
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,制藥/生物制藥,綜合 |
|---|
OSI王子計測長樣品相位對比測量系統(tǒng)
產(chǎn)品介紹
OSI王子計測長樣品相位對比測量系統(tǒng)
OSI王子計測長樣品相位對比測量系統(tǒng)
KOBRA-WX***系列長樣品相位對比測量系統(tǒng)
型號區(qū)分（WX***）：按幅寬劃分標準型號：WX50（50mm 幅寬）、WX100（100mm 幅寬）、WX150（150mm 幅寬）；另有WX-IR 紅外版（適配 850~1100nm 紅外光學(xué)膜）
■特征
測量方法：
平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法
測量波長：
450、550、590、650nm
按樣品階段劃分的樣品尺寸
測量區(qū)域
33mm2（5.8mm 正方形：感光細胞區(qū)域）
軟件名稱：
KOBRA-DSP/X
測量項目：
相位差和取向角輪廓
Oji Keisoku (OSI 王子計測) KOBRA-WX*** 長樣品相位差測量系統(tǒng) 產(chǎn)品介紹
KOBRA-WX* 是王子計測專為長條形 / 大尺寸光學(xué)薄膜、偏光板、相位差膜設(shè)計的離線高精度自動進樣式相位差測量系統(tǒng)，主打長樣品全幅寬 / 長度方向連續(xù) Profile 測量、高穩(wěn)定性、產(chǎn)線級批量質(zhì)檢，是 KOBRA 系列中面向長尺樣品的旗艦機型（區(qū)別于 WFD0 的卷對卷、WX 側(cè)重固定長幅樣品）。
一、核心定位與測量原理
1. 產(chǎn)品定位
核心用途：長尺 / 大尺寸光學(xué)膜（幅寬 50/100/150mm、長度≤1000mm） 的相位差 (Retardation)、取向角 (Optic Axis)、幅寬方向均勻性 (Profile)、波長色散 非接觸、全自動測量
對標場景：光學(xué)膜研發(fā)、制程均勻性監(jiān)控、來料 / 出貨全尺寸質(zhì)檢、偏光板 / 補償膜 / COP/PI 膜長樣品評估
型號區(qū)分（WX***）：按幅寬劃分標準型號：WX50（50mm 幅寬）、WX100（100mm 幅寬）、WX150（150mm 幅寬）；另有WX-IR 紅外版（適配 850~1100nm 紅外光學(xué)膜）
2. 核心測量原理
平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法 (Parallel Nicol Rotation Method)：王子計測技術(shù)，相比傳統(tǒng)旋轉(zhuǎn)檢偏器法，超低相位差靈敏度高、光路穩(wěn)定性強、寬量程無需換擋、重復(fù)性更好，適配從 nm 級超薄膜到 μm 級厚補償膜
光源：多波長固態(tài) LED（標準 450/550/590/650nm，可選擴展至 6 波段），壽命 > 20,000 小時，免維護、無預(yù)熱、波長穩(wěn)定
二、關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)（以 WX100 為基準，同系列通用）
1. 測量范圍與精度
相位差 (Retardation)：0 ~ 20,000 nm（全量程單次測量，無檔位切換）
取向角 (Optic Axis)：0 ~ 90°
相位差分辨率：0.001 nm；重復(fù)性：≤0.03 nm (150nm 標樣，590nm, 3σ)
角度分辨率：0.001°；重復(fù)性：≤0.05°
測量光斑：33 mm2 (5.8 mm 方形)，保證大區(qū)域平均測量、避免局部缺陷干擾
2. 樣品規(guī)格（核心長樣品適配）
標準幅寬：WX50(50mm)、WX100(100mm)、WX150(150mm)
樣品長度：≤1000 mm（支持整段連續(xù)掃描）
樣品厚度：≤3 mm
樣品形態(tài)：長條形薄膜、偏光板、裁切長片、卷材裁切樣，支持自動進樣 / 手動定位、幅寬方向多點 / 全幅掃描
3. 系統(tǒng)與軟件
專用控制軟件：KOBRA-DSP/X
測量項目：相位差、取向角、幅寬方向 Profile、長度方向分布、波長色散、均勻性統(tǒng)計（Cpk、標準差）
數(shù)據(jù)輸出：CSV、Excel、PDF 報告，支持 2D/3D 分布可視化、趨勢分析
機身尺寸 (W×D×H)：1550×800×600 mm；重量：約 150 kg；安裝空間：W2500×D900 mm
三、核心產(chǎn)品優(yōu)勢
- 長樣品專用自動進樣，全幅寬連續(xù)測量
專為50~150mm 幅寬、最長 1m的長條形樣品設(shè)計，自動沿長度 / 寬度方向掃描，一次完成整段 Profile，無需反復(fù)裁切、手動對位，大幅提升長樣品檢測效率（單樣品≤1min）
幅寬方向多點 / 全幅掃描，精準評估橫向均勻性（制程拉伸 / 涂布缺陷關(guān)鍵指標）
- 寬量程 + 納米級精度，全品類兼容
0~20,000nm 超寬相位差覆蓋：從OLED 超薄 COP 膜 (幾 nm) 到LCD 大尺寸補償膜 (幾 μm) 均可一次測完，無需換模塊
平行尼科爾法保證超低相位差高靈敏度，解決傳統(tǒng)設(shè)備測超薄膜不準、重復(fù)性差的痛點
- 穩(wěn)定可靠、產(chǎn)線級耐用
LED 固態(tài)光源，無耗材、免維護、長期波長漂移極小
機械結(jié)構(gòu)剛性強，適合實驗室 + 產(chǎn)線抽檢雙場景，長期運行穩(wěn)定性優(yōu)異
軟件界面簡潔、一鍵測量、自動生成質(zhì)檢報告，降低操作人員門檻
- 可擴展功能
可選入射角依賴測量模塊（模擬不同視角光學(xué)表現(xiàn)）
可選紅外版 (WX-IR)：適配 850~1100nm 紅外光學(xué)膜、觸控 / 顯示紅外膜測量
支持定制更長樣品、更寬幅寬、多波長擴展
四、典型應(yīng)用領(lǐng)域
顯示光學(xué)材料：偏光板、相位差膜、OLED 圓偏光片、LCD 補償膜、COP/PI 拉伸膜
高分子材料：長幅光學(xué)薄膜、熱收縮膜、取向高分子板材
研發(fā) / 質(zhì)檢：長樣品均勻性評估、制程穩(wěn)定性監(jiān)控、來料全尺寸檢驗、出貨品質(zhì)管控、失效分析
五、同系列型號速覽
| 型號 | 幅寬 | 適用樣品 | 核心差異 |
|---|---|---|---|
| KOBRA-WX50 | 50 mm | 窄幅長樣品 | 基礎(chǔ)款，小尺寸長膜 |
| KOBRA-WX100 | 100 mm | 標準幅寬長樣品 | 通用主流型號 |
| KOBRA-WX150 | 150 mm | 寬幅長樣品 | 大尺寸偏光板 / 膜 |
| KOBRA-WX-IR | 50/100/150 mm | 紅外光學(xué)膜 | 850~1100nm 紅外測量 |
六、與 KOBRA-WFD0 的核心區(qū)別
WX*：固定長樣品 (≤1m)、幅寬 50~150mm、離線自動進樣、側(cè)重整段長片 Profile，適合裁切長樣、偏光板全尺寸檢測
WFD0：卷對卷連續(xù)送料、長度無限、幅寬 50mm、側(cè)重卷材連續(xù)量產(chǎn)檢測
七、采購渠道
歡迎廣大行業(yè)客戶、合作伙伴垂詢與洽談合作：
玉崎科學(xué)儀器（深圳）有限公司
專項負責人：1??1??????? （林）
地址：廣東省深圳市龍華新區(qū)龍華街道906號電商集團7樓整層玉崎科學(xué)
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