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玉崎科學儀器（深圳）有限公司
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玉科現貨OSI王子計測光軸測量裝置
玉科現貨OSI王子計測光軸測量裝置
■功能特性
測量方法
旋轉偏振器法
平行尼科爾旋轉法
正交尼科爾旋轉法
測量波長
590nm
可選：450nm、550nm、630nm
樣品尺寸
□30～250mm
厚度≤20mm
測量面積
33mm2（5.8mm見方：光電探測器表面）
測量項目
偏振軸方向、方向角、相位差
核心用途：精準測量光學薄膜、偏光板的偏光軸方位角、分子配向角、相位差，評估膜材取向均勻性、偏光性能、貼合精度，解決薄膜 / 偏光板光軸偏差導致的顯示漏光、色差、視角不良問題
核心優勢：角度精度 0.006°(3σ)、單點位 4 秒快速測量、三種測量模式、臺式穩定結構、適配大尺寸樣品
適用場景：光學膜材（相位差膜、偏光片、補償膜）研發、來料 IQC、產線抽檢、實驗室精密標定、偏光板貼合品質驗證
旋轉檢偏器法（Rotating Analyzer）：標準模式，精準測偏光軸、配向角、相位差
平行尼科爾旋轉法（Parallel Nicol）：適配高透過率、低相位差樣品
正交尼科爾旋轉法（Crossed Nicol）：適配高消光比、大相位差樣品
光源：590nm 單色 LED（標準），可選 450/550/630nm，滿足不同膜材光譜特性需求
測量項目：偏光軸方位角、分子配向角、相位差（Retardation）
測量波長：標準 590nm；可選 450nm、550nm、630nm
角度精度（3σ）：±0.006°（行業頂尖水平，滿足光學膜材嚴苛要求）
角度分辨率：0.001°
相位差測量范圍：0~1000nm（可擴展）
測量光斑：5.8mm 方形（33mm2），穩定覆蓋膜材測量區域
測量速度：單點位約 4 秒（偏光軸），全參數測量≤6 秒
樣品規格：方形 30~250mm，厚度≤20mm，適配大尺寸卷材裁切樣、成品偏光板
主機尺寸：W380 × H390 × D610 mm
主機重量：27kg（穩定臺式結構，抗振動、適合實驗室 / 產線固定工位）
供電：AC100~240V，50/60Hz
系統配置：測量主機（含光源 + 光學系統）、專用控制軟件、校準片、樣品臺、數據線、電源線
專用 Windows 軟件：實時顯示角度 / 相位差數值、測量曲線、數據統計（均值、標準差、Cpk）、合格判定
數據格式：CSV、Excel、PDF 報告，支持批量導出、歷史數據追溯、SPC 品質管控
操作：一鍵測量、自動校準、參數預設、樣品定位輔助，降低操作門檻
角度精度達 **±0.006°(3σ)**，遠超常規設備，可捕捉微小光軸偏差，適配 OLED/LCD 用偏光片、相位差膜的精密測量
穩定光學系統，長期漂移小，無需頻繁校準，保證批量測量一致性
旋轉檢偏器、平行 / 正交尼科爾三種模式自由切換，適配低相位差、高透過率、高消光比等不同特性的光學膜材，無測量盲區
單點位 4 秒完成偏光軸測量，全參數≤6 秒，比傳統設備效率提升 50%+
大樣品臺（250mm），一次放置多片小樣品或整片大尺寸膜材，減少裝夾時間
一體化光學設計，抗振動、抗粉塵，適合實驗室與產線混合環境
LED 固態光源，壽命 > 20,000 小時，免預熱、波長穩定、維護成本低
光學膜材行業：偏光片、相位差膜、補償膜、取向膜的研發與品質管控，測量光軸均勻性、配向精度、相位差
顯示面板行業：偏光板來料檢驗、貼合后光軸偏差檢測、面板光學缺陷分析
高分子材料：拉伸膜、液晶取向膜、光學塑料的分子取向評估
| 對比項 | PAM-PTB100（便攜式） | PAM-PR300（臺式） |
|---|---|---|
| 測量類型 | 透射式橢圓偏振（成品面板） | 臺式光軸 / 相位差（膜材） |
| 核心精度 | 角度 ±0.05° | 角度 ±0.006°(3σ) |
| 測量速度 | 3 秒 / 點 | 4 秒 / 點 |
| 樣品尺寸 | 面板≥40mm | 膜材 30~250mm，厚≤20mm |
| 便攜性 | 分體探頭，1.5kg，可手持 | 臺式一體化，27kg，固定工位 |
| 核心用途 | 現場 / 產線成品面板快速抽檢 | 實驗室 / 產線膜材精密測量、研發標定 |
六、采購渠道
歡迎廣大行業客戶、合作伙伴垂詢與洽談合作：
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玉崎科學儀器（深圳）有限公司 - 主營產品： 寫真化學SK-MP12T_SK-400TR_SK-350TI ...
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