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DLTB-600測量地質流體包裹體的均一化溫度和冰點溫度是地質流體包裹體研究中一項重要的內容。巖礦鑒定，包裹體均一溫度、鹽度、壓力的精確測定，為成巖史、油氣運移...

硅片，是一種圓形的片狀材料，其原子經過人工重新排列，是具有晶向的高純半導體材料。由于硅元素在占地殼質量的26%，所以單晶硅是目前主要的半導體材料。單晶硅是目半導...

?SLR-400型雙面加熱高低溫冷熱臺是一款區別單面加熱的冷熱臺，目前市場上很多冷熱臺都是單面加熱，如果樣品比較厚的話，會導致一面受熱不均勻，從而影響測試數據的...

HET-1型二維轉移平臺適用于石墨烯、各類過渡金屬化合物、黑磷等多種單層及其多層二維材料的精確定位轉移及范德瓦爾斯異質結的準確制備，實現了低維材料轉移的精確可視...

由于在制備多層異質結結構的二維半導體材料晶體管的過程中，需要將一層二維材料轉移到另一層二維材料上。在常規的大氣環境中進行轉移操作時，難免會遇到轉移后兩層材料中含...

JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊，設計精密，價格實惠，配置靈活，性價比。在高等院校教學和小型實驗室...

JKZC-DN系列探針臺是我司一款增強型晶圓測試探針臺，最大可完成12英寸晶圓的電學測試。此系列探針臺釆 用高剛性顯微鏡龍門結構，顯微鏡可X-Y-Z方向進行精密...

JKZC-DH系列探針臺是一款綜合型晶圓測試探針臺，最大可完成12英寸晶圓的電學測試。此系列探針臺設備配 置十分豐富，不僅具備龍門架結構和卡盤的升降功能，還具備...

JKZC-DSH系列探針臺是我司自主研發的一款雙面探針臺，最大可完成12英寸晶圓的正反面點針測試。在具備常 規探針臺的功能基礎上,可用于晶圓和PCB板的測試，對...

JKZC-UC系列探針臺是一款在非真空條件下實現低溫環境的測試探針臺。該產品釆用液氮或者空氣壓縮機制冷 ,自動控溫，設備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面可以屏...

JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺是我司自主研發的一款在環境下給樣品加載電學信號的設備。可以實現 器件及材料表征的IV/CV特性測試，射頻測試，光電測試等。...

主要參數：進口高剛性絲桿,螺距:025mm/rev;X/Y/Z行程:12.5mm ,精度:0.5um;高剛性結構，彈簧消隙X-Y-Z穩定無間隙；吸附形式:N52...

JKZC-DR-200mRF或者JKZC-DL-200mRF（R代表右邊，L代表左邊） 主要慘數：.進口高剛性絲桿螺距:0.25mm/rev ;?X/Y/Z行程...

產品型號JKZC-UC-JKZC-DR4產品參數-鐵磁屏蔽箱,屏蔽外界信號對測試的干擾，提升測試精度；?向上開門設計，空氣彈簧結構,帶接地端子；-高壓，大電流測...

?整機外形尺寸:約380mmL*300mmW*320mm H,重量:約10 kg；?雙探針座平臺鍍鏢設計，提高了針座平臺和針座之間的吸附力；? ChJKZC-U...

原位拉伸冷熱臺 JK-LS500采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃溫度下材料的動態應力應變特性測試，可與顯微分析、電學分析相結合。原位拉伸冷熱...

JKZC-UTS150微型冷熱腔是一種適配μTS拉伸臺的產品，包含拉伸、壓縮、三點彎模塊。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-100~50℃ (高溫以實際數...

探針熱臺JK-600S是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用電阻加熱的方式，實現RT~600℃范圍內精準控...

探針冷熱臺JK-600C是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~60...

半導體冷熱臺JK-120BPE、BPE100采用半導體冷熱控制，配合循環水散熱，實現從-25~120℃（選型）的控溫。無需液氮等致冷劑，具有無噪聲、無振動等特點...