目錄:中光星儀(廈門)科技有限公司>>熒光檢測>> Probe-F-405nm 熒光探頭
| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 色散單元 | 光柵和濾光片 | 應用領域 | 綜合 |
Probe-F-405nm 熒光探頭可與基礎型、制冷型、科研型光譜儀配合,搭配405nm熒光專用激光器,實現對于熒光發射光譜的檢測。
Probe-F-405nm 熒光探頭各波長探頭均設計為統一接口規格和尺寸,方便各種整合。
Probe-F-405nm 熒光探頭:

中光星儀(廈門)科技有限公司(SINOPTOSTAR Technologies Co., Ltd. ),是一家專業從事光譜分析儀器、實驗分析儀器研發、生產和銷售的高新的科技型企業。公司由一群擁有多年光電領域經驗的專業化人員組成,集研發、生產、銷售于一體。光纖光譜儀、拉曼光譜儀、光學附件和光學系統,從元件到系統級設計均為自主設計完成。可提供售前支持、方案設計、生產制造服務。