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當前位置：江西欣罡科技有限公司>>KOSAKA/小坂研究所>> KOSAKA小坂研究所半導(dǎo)體探針卡檢測設(shè)備
產(chǎn)品型號
品 牌KOSAKA/小坂研究所
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地南昌市
更新時間：2025-12-31 15:16:40瀏覽次數(shù)：163次
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NanoFocus半導(dǎo)體探針卡檢測設(shè)備產(chǎn)品參數(shù)
| 分辨率 | X & Y軸: 0.5-5.1um; |
|---|---|
| Z軸：0.016 um; | |
| 取樣率 | 8000 Hz |
| 工作距離 | 8 mm |
| 掃描寬度 | 630 um |
| 高度范圍 | 300 um – 400 um |
| 機臺尺寸 | 300mm x 300mm（可定制） |
KOSAKA小坂研究所半導(dǎo)體探針卡檢測設(shè)備
● 承載量> 50 kg。● 專用探針卡盤；RFID 卡識別?！?適用于SEMI以及SECS/GEM協(xié)議?！?MEMS式, 垂直式, 懸臂式探針卡。● 評估晶圓磨損與探針尖/頭的相關(guān)性?！?探測探針卡表面異物與表面堵塞情況?！?持續(xù)監(jiān)測耗損狀況, 精確預(yù)測使用壽命?！?迅速評估, 精準定位, 大幅降
KOSAKA小坂研究所半導(dǎo)體探針卡檢測設(shè)備
● 承載量> 50 kg?！?專用探針卡盤；RFID 卡識別?！?適用于SEMI以及SECS/GEM協(xié)議?！?MEMS式, 垂直式, 懸臂式探針卡。● 評估晶圓磨損與探針尖/頭的相關(guān)性?！?探測探針卡表面異物與表面堵塞情況?！?持續(xù)監(jiān)測耗損狀況, 精確預(yù)測使用壽命?！?迅速評估, 精準定位, 大幅降
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