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當前位置：江西欣罡科技有限公司>>KOSAKA/小坂研究所>> SE-RD-STD系列KOSAKA小坂致東Radiation全光譜橢偏儀
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
規格 | 技術指標 |
襯底類型 | 透明或半透明襯底 |
光源 | 氙燈 |
光源壽命 | >8760H |
光譜范圍 | 300-1000nm |
入射角 | 70度（40度-90度 每5度可調） |
光斑直徑 | 100x120μm(Min80x100um) |
測量時間（不對焦） | <2S(單層模型),<約6s（多層模型） |
膜厚測量范圍（單層膜） | 1nm-15μm |
對焦 | 自動訊號對焦 |
膜厚測量精度 | <0.5nm(基于標片) |
折射率測量精度 | <0.005(基于標片) |
厚度重復性精度： | <0.5A（1 sigma 標準差,10times）（基于標準片） |
折射率重復性精度： | <0.0005（1 sigma標準差,10times）（基于標準片） |
可測試膜層數量 | ≥2層 |
標片數量 | 2片 |
KOSAKKOSAKA小坂致東Radiation全光譜橢偏儀
品牌：致東 Radiation
● 桌上型膜厚量測設備
● 安裝移動迅速便捷
● 適用于所有非金屬膜質
● 多樣化的應用選擇
● 工業標準數據端口
KOSAKKOSAKA小坂致東Radiation全光譜橢偏儀
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