條形 / 面光源:反射腔聚光 + 漫射板勻光,輸出高均勻光帶 / 光斑。
同軸光源(LFV3 系列):半透半反分光片,光線與相機同軸,凸顯表面劃痕、凹凸。
圓頂光源(HPD2 系列):穹頂反射擴散,360° 均勻照明,適配曲面 / 光澤工件。
原理:LED 陣列→拋物線反射腔聚光→透鏡準直→漫射板勻光→輸出高亮度、高均勻光帶。
核心:通過光學設計抑制邊緣衰減,均勻度>95%,適配線束、劃痕、尺寸檢測。
原理:LED 發光→漫射板發散→半透半反鏡 45° 反射→垂直照射工件→工件反射光沿原路返回相機,與鏡頭同軸。
核心:篩選同軸光線,抑制斜向反光,適合鏡面、玻璃、金屬表面缺陷檢測。
原理:LED 陣列→穹頂反射內壁多次散射→均勻包裹工件→無陰影、無眩光。
核心:高輸出(傳統 3 倍亮度)+ 全角度勻光,適配焊錫、曲面、光澤工件檢測。

原理:LED 線性排列→導光擴散板→超長均勻光帶,配合線掃相機高速成像。
核心:寬發光面 + 新型散熱,適配大幅面、高速檢測(如 PCB、薄膜)。
均勻性:光學精密校準
通過反射腔曲面優化、LED 角度微調、漫射板材質定制,實現發光面均勻度>95%,避免明暗不均導致的誤檢。
低衰減長壽命:智能熱控 + 恒流驅動
恒流控制避免電流沖擊,高效散熱抑制光衰,長期工作亮度穩定,降低維護成本。
全光譜適配:波長精準定制
覆蓋 UV(365/395nm)、可見光、IR(850/940nm),可混合波長,適配顏色識別、熒光檢測、透檢測等場景。
高速同步:時序可編程控制
數字控制器支持微秒級頻閃,與相機快門精準同步,消除運動模糊,適配高速生產線。
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