地質(zhì)冷熱臺(tái)支持與各類(lèi)顯微鏡（Leica、Olympus、Nikon、Zeiss等）、光譜儀（紅外光譜儀、拉曼光譜儀、熒光光譜儀等）等光學(xué)儀器設(shè)備聯(lián)用，進(jìn)行變溫光學(xué)觀(guān)察及測(cè)試?？蓪?shí)現(xiàn)不開(kāi)蓋情況下對(duì)樣品觀(guān)測(cè)區(qū)域進(jìn)行調(diào)節(jié)。

地質(zhì)冷熱臺(tái)可在-190℃~600℃的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行控溫，實(shí)現(xiàn)樣品在開(kāi)放式/氣密/真空環(huán)境下，反/透射的原位變溫光學(xué)觀(guān)察及相關(guān)測(cè)試。

產(chǎn)品特點(diǎn)：1）控溫范圍：-190℃~600℃

2）溫度穩(wěn)定性：±0.1℃

3）升降溫速率：0.1~50℃/min

4）支持反射 / 透射光路

5）上位機(jī)軟件控制

6）可按需定制

地質(zhì)冷熱臺(tái)系統(tǒng)實(shí)物圖

技術(shù)參數(shù)表