在電子精密制造領(lǐng)域，PCB線路板、FPD平板顯示、光學(xué)玻璃基材的制程缺陷具備尺寸微小、分布寬泛、類型多樣的特征，常規(guī)面陣相機(jī)難以滿足大幅面、連續(xù)性、微米級(jí)的全域質(zhì)檢需求。MORITEX茉麗特線掃成像系統(tǒng)，依托大像面低畸變線掃鏡頭、高同步成像光學(xué)設(shè)計(jì)，搭配高精度線掃相機(jī)，可實(shí)現(xiàn)高速連續(xù)掃描、全域高清成像，穩(wěn)定適配PCB、CF彩色濾光片、BM黑矩陣、LCD液晶面板、光學(xué)玻璃等核心電子材質(zhì)的在線檢測(cè)，是電子行業(yè)精密制程質(zhì)控的標(biāo)準(zhǔn)化光學(xué)方案。

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一、電子精密檢測(cè)行業(yè)共性痛點(diǎn)

PCB、FPD、光學(xué)玻璃的量產(chǎn)檢測(cè)，對(duì)光學(xué)成像系統(tǒng)的分辨率、均勻性、畸變控制與掃描穩(wěn)定性要求嚴(yán)苛。傳統(tǒng)視覺方案普遍存在諸多短板：面陣相機(jī)拼縫明顯、全域成像一致性差，大幅面檢測(cè)易出現(xiàn)漏檢；普通鏡頭邊緣照度衰減嚴(yán)重、畸變數(shù)值偏高，無法滿足微細(xì)線路、薄膜涂層、玻璃表面瑕疵的高精度判定；高速產(chǎn)線工況下成像拖影、亮度不均、色彩偏差問題頻發(fā)，導(dǎo)致缺陷誤檢、漏檢率偏高，難以適配電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化量產(chǎn)質(zhì)控需求。茉麗特線掃光學(xué)體系針對(duì)性優(yōu)化光路設(shè)計(jì)與成像性能，精準(zhǔn)解決電子精密檢測(cè)的各類成像難題。

二、PCB線路板全域缺陷檢測(cè)應(yīng)用

PCB制程涵蓋基板、線路、阻焊、絲印等多道工序，易產(chǎn)生線路偏移、線寬不均、短路斷路、阻焊色差、綠油針孔、表面劃傷、銅箔殘留等細(xì)微缺陷，依賴高精度線掃成像實(shí)現(xiàn)全域篩查。MORITEX茉麗特線掃鏡頭以低畸變、高解析、大像面特性，適配8K/16K高線數(shù)線掃相機(jī)，可完成大幅面PCB整板連續(xù)掃描成像。

全系鏡頭TV畸變控制優(yōu)異，畫面中心至邊緣清晰度、照度高度統(tǒng)一，可精準(zhǔn)識(shí)別微米級(jí)線路偏差與局部瑕疵；針對(duì)阻焊層色彩不均、油墨污染、絲印偏位等色彩類缺陷，可搭配3CMOS真彩棱鏡相機(jī)構(gòu)建彩色線掃方案，同步完成結(jié)構(gòu)缺陷與色彩缺陷雙重檢測(cè)。穩(wěn)定的無窮遠(yuǎn)共軛設(shè)計(jì)，適配PCB產(chǎn)線高速連續(xù)走板工況，長(zhǎng)時(shí)間掃描無光路漂移、無成像偏差，適配剛性PCB、柔性FPC全品類線路板量產(chǎn)質(zhì)檢。

三、FPD平板顯示全工序檢測(cè)（CF/BM/LCD）

FPD顯示面板制造對(duì)光學(xué)成像的色準(zhǔn)、均勻度、微缺陷檢出能力要求，茉麗特線掃成像系統(tǒng)可完整覆蓋CF彩色濾光片、BM黑矩陣、LCD液晶面板三大核心制程檢測(cè)場(chǎng)景，滿足顯示行業(yè)精密質(zhì)控標(biāo)準(zhǔn)。

1、CF彩色濾光片檢測(cè)

CF濾光片核心質(zhì)控難點(diǎn)為色階一致性、像素涂布均勻性與微觀瑕疵。茉麗特線掃成像方案可精準(zhǔn)檢出RGB色層涂布不均、像素缺失、色斑、針孔、邊緣毛邊等缺陷，搭配多光譜成像組件可量化色彩差值，嚴(yán)控批次色彩一致性，解決傳統(tǒng)方案弱色差漏檢、色彩判定不準(zhǔn)的問題，適配顯示濾光片量產(chǎn)檢測(cè)。

2、BM黑矩陣檢測(cè)

BM黑矩陣作為面板遮光核心層，對(duì)涂布致密性、邊緣規(guī)整度要求。依托茉麗特線掃鏡頭高對(duì)比度、高解析成像特性，可清晰識(shí)別黑矩陣涂布針孔、漏涂、邊緣鋸齒、厚度不均、異物附著等細(xì)微缺陷，保障遮光層成型精度，避免后續(xù)面板漏光、顯示異常問題。

3、LCD液晶面板檢測(cè)

針對(duì)LCD玻璃基板、配向膜、液晶層制程，線掃成像系統(tǒng)可高效篩查基板劃痕、玻璃雜質(zhì)、膜層不均、貼合氣泡、像素亮點(diǎn)暗點(diǎn)等缺陷。大像面全域成像能力，可實(shí)現(xiàn)大尺寸液晶面板無拼縫連續(xù)掃描，成像均勻性優(yōu)異，有效規(guī)避邊緣暗角、局部模糊導(dǎo)致的檢測(cè)盲區(qū)，適配LCD模組中后段全流程質(zhì)檢。

四、光學(xué)玻璃基材高精度檢測(cè)應(yīng)用

消費(fèi)電子、顯示行業(yè)所用的蓋板玻璃、光學(xué)基板、超薄玻璃，對(duì)表面潔凈度、平整度、透光一致性要求嚴(yán)苛。茉麗特線掃成像系統(tǒng)專為透明材質(zhì)檢測(cè)優(yōu)化光路，雜光抑制能力突出，可穩(wěn)定檢出玻璃表面劃痕、磨邊瑕疵、氣泡、結(jié)石、污漬、鍍膜不均等微觀缺陷。

針對(duì)超薄玻璃、鍍膜玻璃的穿透式檢測(cè)需求，可搭配SWIR短波紅外棱鏡相機(jī)，實(shí)現(xiàn)玻璃內(nèi)部夾層雜質(zhì)、隱形裂紋、膜層分層等可見光無法檢出的隱性缺陷篩查，兼顧表面外觀與內(nèi)部材質(zhì)質(zhì)控。工業(yè)級(jí)穩(wěn)定光學(xué)結(jié)構(gòu)，抗震動(dòng)、抗溫漂，適配玻璃磨邊、鍍膜、清洗全工序高速在線檢測(cè)，大幅提升玻璃基材良品率。

五、茉麗特線掃檢測(cè)方案核心優(yōu)勢(shì)

1、全域均勻成像，適配大幅面掃描：大像面光學(xué)設(shè)計(jì)，成像照度、清晰度全域統(tǒng)一，無邊緣衰減、無拼縫盲區(qū)，適配PCB大板、大尺寸FPD面板、寬幅玻璃基材檢測(cè)。

2、低畸變高解析，捕捉微米級(jí)缺陷：嚴(yán)苛的畸變控制與高分辨率光學(xué)性能，精準(zhǔn)識(shí)別微細(xì)線路、薄膜涂層、玻璃表面的微小瑕疵，滿足電子精密制造精度要求。

3、多成像體系兼容，適配多元工況：可搭配普通黑白/彩色線掃相機(jī)、3CMOS真彩棱鏡相機(jī)、SWIR短波紅外相機(jī)，實(shí)現(xiàn)外觀、色彩、內(nèi)部缺陷多維度檢測(cè)，覆蓋電子全制程質(zhì)控需求。

4、工業(yè)級(jí)穩(wěn)定性，適配量產(chǎn)節(jié)拍：無窮遠(yuǎn)共軛光學(xué)設(shè)計(jì)，適配流水線連續(xù)高速掃描，長(zhǎng)期運(yùn)行無光路偏移、無成像漂移，降低產(chǎn)線運(yùn)維與標(biāo)定成本。

六、行業(yè)選型總結(jié)

MORITEX茉麗特線掃成像系統(tǒng)憑借成熟的光學(xué)調(diào)校能力、均衡的成像性能與的場(chǎng)景適配性，形成了適配PCB線路板、FPD顯示面板（CF/BM/LCD）、光學(xué)玻璃的標(biāo)準(zhǔn)化精密檢測(cè)方案。從微觀缺陷篩查、色彩一致性管控到大幅面全域掃描，可滿足電子精密制造的量產(chǎn)質(zhì)控需求，是顯示、電路板、光學(xué)基材行業(yè)自動(dòng)化視覺檢測(cè)的優(yōu)選光學(xué)方案。

MORITEX茉麗特線掃成像系統(tǒng)，適配PCB線路板、FPD彩色濾光片、黑矩陣、LCD面板、光學(xué)玻璃高精度檢測(cè)，高速全域掃描，穩(wěn)定檢出微米級(jí)外觀與制程缺陷，適配電子精密制造量產(chǎn)質(zhì)控。

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