2026/06/11
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臺式透射掃描電鏡是一種用于材料科學、化學工程領域的分析儀器，其透射電鏡(TEM)模式分辨率不大于1.2 nm，掃描電鏡(SEM)模式分辨率不大于3 nm，樣品腔真空度優于10-5 mbar，于2016年9月3日啟用。該儀器屬于臺式電鏡，為科研和工業應用提供高分辨率的觀察和分析手段。
臺式場發射掃描電鏡是一種小型化的高分辨率微觀分析儀器。它采用肖特基場發射電子槍，在緊湊的臺式機身上實現了接近大
型場發射電鏡的成像性能，分辨率可達納米級別。該設備集成了背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能，能對樣品
進行高分辨形貌觀察與同步元素分析。其設計注重易用性，操作簡便，抽真空與成像速度快，且內置防震與磁屏蔽系統，對環境
要求低，可靈活放置于普通實驗室桌面。廣泛應用于材料科學、半導體、生物醫藥及工業研發等領域。
