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產品簡介
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
|---|
Ultim Extreme ∞（“Infinity"）是為超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡（FEG-SEM）設計的開創性解決方案。
產品介紹
OXFORD/牛津儀器 電子顯微鏡Ultim Extreme Infinity ∞
OXFORD/牛津儀器 電子顯微鏡Ultim Extreme Infinity ∞
Ultim Extreme ∞（“Infinity"）是為超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡（FEG-SEM）設計的開創性解決方案。即便是在達到SEM分辨率極限的條件下，這款獨特的探測器仍能夠在極低的加速電壓下（例如1-3 kV）和極短的工作距離內收集能量色散X射線光譜（EDS）數據，從而分析納米材料和表面成分。由于采用了獨特的技術方案，如特殊形狀的傳感器、無窗設計、更近的探測距離、小型電子陷阱以及立體角，該探測器具有了更強的靈敏度。
獨特的設計可以使這款探測器更輕易表征納米結構和檢測輕元素。
為什么選擇 Infinity？
Ultim Extreme Infinity 提供超越傳統微米和納米分析的解決方案：
Ultim Extreme Infinity 的每臺設備都單獨進行測試，具有超過傳統探測器的典型性能。
由于采用了獨特的技術方案，如特殊形狀的傳感器、無窗設計、更近的探測距離、小型電子陷阱以及立體角，保證了更好的靈敏度。立體角是傳統100mm2EDS探測器的7-8倍。
?? 性能
這是一款在低能端具有出色性能的無窗 EDS 探測器，在計數率高達 50,000 cps 的情況下，CK 的分辨率可達 46 eV 或更高。
?? 優異的高空間分辨率
在使用極低電壓分析樣品時，出色的低能端X射線分辨率尤為重要。使用 TruMap 處理數據可以消除 SL/NbM 和 MoM 的元素重疊。
?? 使用 Tru-Q IQ 解決更多難題
提供解決譜峰重疊元素或識別痕量元素成分的新能力。
?? 更快、更準確的納米表征
輕元素信號的大幅增加可實現快速采集和實時數據處理。
?? 在相同條件（WD、電流、電壓）下進行納米級分辨率成像和元素分析
在保障觀察結構所需的成像條件下，獲得精細的特征信息
?? 高輕元素靈敏性和分析電子束敏感材料
Ultim Extreme Infintiy可將氮等元素的可探測性提高到新的水平。
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