布魯克掃描電鏡專用原位納米力學系統PI 89，利用掃描電子顯微鏡 (SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統搭載Bruker的電容傳感技術，繼承了早期商業化原位SEM納米力學平臺的優良功能。

布魯克是國際頗具影響力的分析儀器公司，布魯克納米表面儀器部作為其下屬事業部，一直著眼于研發新的表面計量、檢測方法和工具，提供不同維度的表面表征測試的多種應用方案。我們的核心產品有原子力顯微鏡、探針式輪廓儀、納米壓痕儀、三維光學輪廓儀、摩擦磨損測試機,、SEM/TEM 原位力學桿等。這些設備適用于從高校研究所到工業領域的材料、化學、生命科學、物理、LED、太陽能、觸摸屏、半導體、通信以及數據存儲等領域進行科學研究、產品開發、質量控制及失效分析的準確、高效分析測試的要求，幫助我們的客戶在各自的表面測量測試應用中解決面臨的問題，提升技術和工藝水平，提高研發效率。