日本尼康  高精度數顯高度計測量系統

  在精密制造、半導體、光學行業中，微米級的高度、臺階差、平整度直接決定產品良率，普通卡尺、百分表精度不足，無法滿足微小尺寸檢測要求。日本尼康依托光學與精密測量技術沉淀，推出MH?15M+TC?101A 組合測量系統，采用高精度光柵式線性測頭，將微小位移精準轉化為數字信號，搭配專用控制器實現直觀讀數、峰值記錄、公差管控，是精密零部件尺寸檢測、制程管控、來料檢驗的標準配置設備。

日本尼康  高精度數顯高度計測量系統

核心結構與性能優勢

1. 光柵式精密測頭，微米級超高精度

   MH?15M 采用尼康自研光柵傳感技術，區別于普通電感測頭，線性度好、漂移小，可穩定捕捉 0.1μm 級微小高度變化。

2. 15mm 有效行程，適配多場景檢測

   適中測量行程，兼顧微小零件臺階差、厚度、平整度、平行度，適合 3C、半導體、光學件、沖壓件、塑膠件等通用精密檢測。

3. TC?101A 專用控制器，功能齊全易操作

   控制器支持一鍵歸零、峰值 / 谷值保持、公差判定報警，可快速判定合格 / 不良，簡化質檢流程，降低人工讀數誤差。

4. 測力輕柔均勻，不損傷精密工件

   內置精密彈簧結構，測力穩定柔和，檢測晶圓、玻璃、薄膜、超薄零件時不易壓傷表面，適配脆弱精密件測量。

5. 讀數穩定抗干擾，車間環境可靠使用

   信號處理優化，抗振動、抗電磁干擾，在產線工位、精密加工車間可穩定工作，無跳數、無漂移。

6. 安裝靈活，擴展性強

   可搭配測量臺、微調支架、自動化工裝使用，也可對接 PLC、上位機實現數據輸出，適配離線抽檢與在線自動化檢測。

行業實際應用價值

• 半導體行業：晶圓厚度、臺階差、封裝件平整度、陶瓷零件高度檢測；

• 3C 電子：手機配件、連接器、端子、塑膠件臺階差與厚度測量；

• 光學行業：鏡片、玻璃蓋板、濾光片厚度、平行度檢測；

• 精密模具：模仁高度差、鑲件臺階、平面度、治具尺寸校驗；

• 實驗室質檢：樣品微小尺寸測量、研發試樣數據采集、來料精密檢測。

使用與維護說明

售后保障