產(chǎn)品概述

核心結構與設計

日本大塚電子OTSUKA 光學式薄膜測量儀

核心功能特點

• 高精度光學檢測：搭載專業(yè)光學檢測模塊，對各類薄膜、涂層實現(xiàn)精準測量，測量重復性好，數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠，滿足精密制程的管控要求。

• 多層薄膜分析：支持單層膜與多層復合薄膜的厚度解析，可區(qū)分不同材質(zhì)膜層并分別測算厚度，適配復雜鍍膜工藝檢測需求。

• 智能運算與一鍵測量：內(nèi)置專屬分析算法，對準被測位置后一鍵啟動即可完成檢測，設備自動運算并輸出結果，省去復雜手動計算步驟，大幅提升檢測效率。

• 數(shù)據(jù)管理功能：具備數(shù)據(jù)存儲能力，可留存多組檢測數(shù)據(jù)，方便后期對比、追溯與品質(zhì)統(tǒng)計，也可配合外設完成數(shù)據(jù)導出，形成完整檢測報告。

• 寬泛適配性：可兼容多種基材與膜層材質(zhì)，針對光學膜、樹脂涂層、功能性鍍膜、油墨層等不同類型薄膜均能穩(wěn)定檢測，適用范圍廣。

• 靈活供電設計：支持常規(guī)電池供電，續(xù)航能力充足，滿足外勤多點巡檢；也可搭配電源適配器固定使用，適配實驗室長時間連續(xù)檢測。

適用樣品與場景

• 光學行業(yè)：光學鏡片鍍膜、濾光片、偏光片等光學薄膜厚度檢測。

• 半導體行業(yè)：晶圓表面涂層、防護薄膜、光刻膠層等精密膜層巡檢。

• 涂裝加工：各類工件表面功能性涂層、裝飾涂層厚度把控，管控涂裝均勻性。

• 薄膜制品：塑料薄膜、復合膜、離型膜等成品與半成品厚度抽檢。

• 現(xiàn)場巡檢：生產(chǎn)線工位快速點檢、來料入庫檢驗、成品出廠檢測、設備工藝調(diào)試。