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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
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日本thanko 自動倍率識別顯微鏡
偏光觀測設計
內置可調線性偏光鏡,可有效抑制金屬、塑料、珠寶等高反光表面的眩光與反射,清晰呈現表面紋理、劃痕及細微缺陷,解決普通顯微鏡觀測反光物體時畫面泛白、細節丟失的問題。
AMR 自動倍率識別
搭載自動倍率識別技術,連接電腦軟件后可自動檢測并顯示當前放大倍數,測量時無需手動換算,數據可自動同步存儲至圖像,大幅提升檢測效率與測量精度,避免人工讀數誤差。
寬范圍無級放大
支持 20 倍至 220 倍連續無級變焦,可靈活切換低倍全景觀測與高倍細節放大,適配從宏觀外觀到微觀缺陷的全維度檢測需求。
高清成像與穩定照明
配備高清成像傳感器,成像清晰銳利、色彩還原真實;內置 8 顆高亮白光 LED,亮度均勻可調,即使在弱光環境下也能提供充足照明,保障觀測畫面穩定明亮。
便攜易集成
機身小巧輕便,單手即可握持操作,適配狹窄空間檢測;USB2.0 接口即插即用,無需額外電源,兼容 Windows、Mac 系統,可直接對接電腦進行實時觀測、拍照、錄像及尺寸測量。
可拆卸前蓋設計
前端保護蓋可拆換,適配不同觀測場景,同時便于日常清潔與維護,延長設備使用壽命。
產品類型:手持 USB 數碼顯微鏡
品牌:THANKO(日本)
系列:DINO-LITE Edge
型號:AM4515ZT
核心功能:偏光功能、AMR 自動倍率識別
放大范圍:20-220 倍(無級變焦)
照明方式:內置可調白光 LED
連接方式:USB2.0
兼容系統:Windows、Mac
機身材質:復合材質
尺寸:小巧便攜規格
重量:輕便設計
工業制造:電子元件、PCB 電路板、精密五金件的表面缺陷檢測、劃痕觀測、尺寸測量。
精密加工:機械零件、刀具、模具的微觀紋理檢查、磨損分析、裝配校準。
珠寶首飾:鉆石、玉石、貴金屬的內部瑕疵、紋理鑒定,表面拋光質量檢測。
其他領域:印刷品網點檢查、紡織品纖維觀測、文物修復細節記錄、頭皮 / 皮膚檢測等。
通過 USB 線將顯微鏡與電腦連接,系統自動識別設備并安裝驅動。
打開配套觀測軟件(DinoCapture2.0),啟動設備,調節 LED 亮度至合適效果。
手持顯微鏡對準觀測物體,旋轉變焦環調整放大倍數,通過軟件查看實時成像。
觀測過程中可一鍵拍照、錄像,利用軟件測量工具完成尺寸標注與數據記錄。
使用完畢后,關閉軟件與設備,斷開 USB 連接,清潔鏡頭后妥善收納。
避免鏡頭直接接觸尖銳物體或腐蝕性液體,防止鏡頭刮花或損壞。
定期用軟布擦拭鏡頭表面,保持清潔,避免灰塵影響成像清晰度。
避免機身劇烈撞擊或摔落,防止內部光學元件移位、損壞。
長期不用時,將設備存放于干燥通風處,避免潮濕環境導致部件老化。
請勿自行拆解機身,出現故障請聯系專業售后人員檢修。
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