日本代理OTSUKA大塚ZETA電位和粒度測量系統

日本代理OTSUKA大塚ZETA電位和粒度測量系統

本產品是一款專用于測量顆粒尺寸和zeta電位的儀器。ELSZneoSE提供ELSZneo的新功能作為可選特性。您可以根據具體應用需求自定義這些功能。　

• 可根據您的需要添加功能（分子量測量、顆粒濃度測量、微流變學測量、凝膠網絡結構分析、多角度粒徑測量）。

• 使用標準流動池可以連續測量粒徑和zeta電位。

• 可以在很寬的濃度范圍內測量顆粒尺寸和zeta電位，從稀溶液到濃溶液（高達40%）。

• 在高鹽濃度下可以測量平面樣品的zeta電位。

• 測量溫度范圍很廣，從 0 到 90°C 均可進行。

• 溫度梯度函數能夠分析蛋白質和其他材料的變性和相變溫度。

• 通過測量和繪制細胞內的電滲流，我們獲得了高度精確的zeta電位測量結果。

• 可加裝熒光濾光片（可選）。

這非常適合對微粒、薄膜和片狀樣品等表面科學進行基礎研究和應用研究，研究領域包括界面化學、無機材料、生命科學、半導體、聚合物、生物學、藥學和醫學。

• 新型功能材料領域：
  燃料電池相關（碳納米管、富勒烯、纖維素納米纖維、功能膜、催化劑、納米金屬）、
  生物納米相關（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、生物納米顆粒）、納米氣泡、
  生物相容性材料等。
   

• 陶瓷和著色劑行業：
  無機溶膠 的表面改性、分散和聚集控制；顏料（炭黑、有機顏料）的分散和聚集控制；以及漿狀樣品和濾色片中礦物浮選吸附的研究。
   

• 在半導體領域，
  我們正在闡明異物粘附于硅片表面的機理，并研究磨料和添加劑與硅片表面的相互作用。我們還在研究
   化學機械拋光（CMP）漿料。
   

• 聚合物和化學工業
  研究 ：乳液（涂料和粘合劑）的分散和聚集控制，乳膠（醫藥和工業）的表面改性，聚合物電解質（聚苯乙烯磺酸鹽、聚羧酸等）的功能，以及造紙工藝控制和
  功能性納米顆粒紙漿和紙漿
  的紙漿添加劑研究。
   

• 　
  控制制藥和食品工業中乳液（食品、香料、醫藥和化妝品）的分散和聚集；
  控制功能性脂質體和蛋白質囊泡的分散和聚集；以及控制表面活性劑（膠束）的功能。
   

測量項目　　　　　　　　　

Zeta電位和粒徑

規格　　　　　　　　　

●承保范圍

*1（標準顆粒：0.00001%至10%，牛磺膽酸：高達40%）

能夠測量粒徑和zeta電位的單元

一種能夠測量顆粒尺寸的樣品池。
可以使用市售的矩形樣品池。