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| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 2萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
到貨 YAMABUN山文電氣 分光干涉式測厚儀
TOF-S 光譜干涉臺式測厚儀，采用單側反射非接觸光學原理，量程 1~150μm，分辨率 0.001μm，最多解析 3 層透明復合膜分層厚度。無探頭擠壓損傷超薄光學基材，微光斑可測局部涂層，自動掃描導出厚度曲線，專用于 PI 光學膜、光刻膠、透明功能性涂層實驗室高精度研發質檢。
到貨 YAMABUN山文電氣 分光干涉式測厚儀
規格參數
| 參數項目 | TOF-S 標準指標 |
|---|---|
| 測量原理 | 光纖分光干涉、單側反射式非接觸測量 |
| 雙量程切換 | 薄材模式：1～50 μm；厚材模式：10～150 μm |
| 最小顯示分辨率 | 0.001 μm（納米級讀數） |
| 重復測量精度 | ≤±0.01 μm |
| 光斑尺寸 | Φ0.6 mm 微小光斑，可測微小 Mark 區域 |
| 探頭工作間隙 | 30 mm，無物理觸碰樣品 |
| 掃描長度 | 50～5000 mm 長條試樣連續掃描 |
| 采樣步距 | ≥1 mm 可調密集采樣 |
| 可測層數 | 最多 3 層透明復合膜分層測厚 |
| 供電 | AC100V 50/60Hz，配套獨立光源控制器 |
| 使用環境 | 5～45℃，單次測量溫差≤1℃，35%～80% RH 無凝露 |
| 數據輸出 | USB，厚度曲線、分層厚度報表、雷達分布圖導出 |
| 適用基材 | 透明 / 半透明光滑薄膜、光學涂層、光刻膠、超薄玻璃；不可測不透明金屬、發泡、有色不透明卷材 |
應用場景
顯示光學行業：超薄 PI 補償膜、偏光片、離型膜、AR/AG 透明功能性涂層；
半導體材料：晶圓光刻膠、光學保護膜、透明封裝涂層厚度標定；
新能源光學：太陽能透明封裝膜、光伏減反涂層離線研發檢測；
精密光學零部件：超薄光學玻璃、鏡頭透明鍍膜、微區 Mark 涂層測量；
新材料實驗室：多層復合透明高分子薄膜配方分層厚度驗證。
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