大塚電子各類檢測設備適配工業量產質控與實驗室研發場景，設備結構緊湊、操作便捷、數據重復性好，可適配多層薄膜、超薄膜、精密鍍膜等復雜材質的檢測需求，可滿足多行業精細化檢測標準。日崎國際貿易（成都）有限公司為品牌正規合作渠道，可為西南區域客戶提供全系設備貨源配套、工況選型與技術維保服務。

大塚電子膜厚計是品牌核心主力設備，采用成熟的顯微分光干涉檢測原理，依托自主光學演算算法，實現非接觸、無損傷式薄膜厚度檢測。設備可精準測量各類透明、半透明薄膜涂層，涵蓋光刻膠、光學鍍膜、ITO導電膜、防腐涂層等常見材質，適配半導體晶圓、光學器件、精密零部件表面涂層檢測場景。

全系膜厚計檢測區間寬泛，可適配納米級超薄膜至微米級厚膜測量，支持多層膜結構解析與光學常數測算，可同步獲取膜厚、反射率、折射率等多項參數。設備檢測速度快，適配離線抽檢與產線配套檢測需求，機身集成度高，適配實驗室、無塵車間等多種作業環境。憑借穩定的運行表現與廣泛的工況適配性，大塚電子膜厚計成為光電、半導體、新材料行業薄膜品質管控的常用配套設備。

OTSUKA大塚電子薄膜厚度測量多通道光譜儀

OTSUKA大塚電子薄膜厚度測量多通道光譜儀

• 利用光譜干涉法測量薄膜厚度

  
  

配備高精度FFT薄膜厚度分析引擎

光纖使得構建靈活的測量系統成為可能。

這是一款多功能、多通道光譜檢測器，覆蓋紫外到近紅外波段。光譜測量可在短短5毫秒內完成。標準光纖使其能夠兼容各種測量系統，無需特定樣品類型。除了顯微光譜、光源發射和透射/反射測量外，配合合適的軟件，它還可以用于物體顏色評估和薄膜厚度測量。