供貨 SANKO三高 EX-731 熒光膜厚度計
供貨 SANKO三高 EX-731 熒光膜厚度計

整機硬件基礎參數(shù)

X 射線源：油浸微型微焦點鎢靶 X 射線管，50kV 可調(diào)電流

探測器：正比計數(shù)器

工作臺：200×200mm，X/Y 軸行程 200mm，工件最大放置高度 90mm

機身尺寸：740 (W)×530 (D)×660 (H) mm，整機重量≤15kg

數(shù)據(jù)輸出：USB 聯(lián)機電腦，專用 Windows 分析軟件

拓展功能：支持2~3 層多層鍍層拆分、合金鍍層厚度 + 成分比例同步檢測；自動生成均值、極差、標準差、SPC 管控圖、直方圖數(shù)據(jù)報表

核心測量原理

采用微焦點 X 射線熒光光譜法，頂部垂直 X 射線照射樣品，探測器捕捉鍍層元素激發(fā)熒光信號，精準解析鍍層材質(zhì)、分層結(jié)構(gòu)、膜層厚度；無需破壞工件，可直接檢測微小焊點、引腳、盲孔鍍層，搭配自動對焦 CCD 彩色攝像，可視化定位測量點位，杜絕測偏誤判。

特征

測量單元監(jiān)控屏幕以可視化的方式顯示被測物體的鍍層附著力分布。

由于采用了 Windows® 軟件，報表創(chuàng)建功能得到了增強。

注意：使用本產(chǎn)品前，您必須通知當?shù)氐膭趧訕藴时O(jiān)察局。

規(guī)格

X射線源

油浸式微型微焦點X射線管

靶材：鎢

管電壓：50kV / 管電流：可變

輻照法

頂部垂直照明方法

探測器

比例計數(shù)器

可測量范圍

原子序數(shù) 22-24：0.02 至約 20 µm；

原子序數(shù) 25-40：0.02 至約 30 µm；

原子序數(shù) 41-51：0.02 至約 70 µm；

原子序數(shù) 52-83：0.01 至約 10 µm

樣本觀測

CCD彩色相機（自動對焦）

桌子尺寸

200 x 200

被測物體的最大高度

90毫米

主機尺寸

740（寬）x 530（深）x 660（高）