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Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀 詳細摘要: Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位...
產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2026-03-09 參考價: 面議 在線留言
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美國布魯克海文儀器公司
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