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大塚電子主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相關材料的光學特性評價?檢查。以高速?高精度?高可靠性且有市場實際應用的分光器MCPD系列為基礎，在中國的顯示器市場上有著20年以上銷售實例，為許多廠家在研究開發(fā)、生產部門所使用。并且在光源?照明相關方面，對國家級研究機構、各個廠家的銷售量在逐步擴大。
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OTSUKA 大塚電子 智能薄膜測厚儀產品參數
| 產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
| 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品/農產品,電子/電池,電氣,綜合 |
OTSUKA 大塚電子 智能薄膜測厚儀詳細信息
OTSUKA 大塚電子 智能薄膜測厚儀 SM-100S
OTSUKA 大塚電子 智能薄膜測厚儀 SM-100S
·方便的類型，可以帶到生產現場
· 使用簡便，任何人都能使用
· 即使手持式機也能實現高精度測量
· 即使是成形樣品，也可實現無損測量
規(guī)格
| 項目 | 優(yōu)點 | 標準 |
| 類型 | SM-100P | SM-100S |
| 測量方法 | 反射光譜學（光學干涉儀） | |
| 測量薄膜厚度范圍*1 | 0.1~100微米（單層） 1~100微米（多層） | 1~50微米（單層） |
| 多層支持 | *多三層 | 一樓 |
| 測量重復性 | 2.1σ 0.01μm（氧化硅薄膜 1μm） | |
| 測量點狀直徑 | Φ1mm或更小 | |
| 數據輸出格式 | 導出文本格式到 USB 存儲器 | |
| 主單位規(guī)模 | 約138（西）×198（D）×61（H）毫米 *包括突出部 | |
| ?重量 | 大約1.1公斤 | |
| 運行時間 | 測量時4小時或更久 | |
| 電源電壓 / 功率 | AC100-240V/35VA（交流適配器輸入） | |
| 保護級別 | IP30/IK06 | |
*
產品信息
特色
“便攜式”，僅1.1公斤，輕便便攜
“高精度測量與簡易測量” 可測量至0.1微米的薄度，無需校準曲線
“兼容多層薄膜”——能夠測量多達3層多層薄膜
“無損非接觸式測量”允許測量而不損壞樣品
“測量各種樣品”——無論基材（玻璃還是塑料）都可以測量
1：可以帶到現場的手持型
（1）小型光譜儀
（2）緊湊型白光源
（3）設備內置
計算機。之前分析是在電腦上進行的
分析
顯示
運營
通過觸摸面板啟用！
（4） 電池操作
（5）參考鏡
（6） 可更換探頭
優(yōu)點
你可以帶它去以前無法到達的地方！
推理
光譜儀微型化、電池丑聞等
*場：商務旅行目的地
第二場：生產線
第三場：無法移動的東西
2：易于使用，任何人都能使用
優(yōu)點
不需要*知識或操作培訓！
理由（1）無需組裝，開啟即可立即使用
集合狀態(tài)理由（2）只需將探針放在樣品上即可測量
很簡單理由（3）通過觸摸面板直觀操作
給自己準備一些設置！
3：即使是手持式機，也能實現高精度測量
優(yōu)點
0.1微米增量的精確測量
推理
它采用光譜干涉法
原理測量基板上的膜層厚度
來自上方
的入射光會反射到薄膜表面
·穿過薄膜的光線會反射到基板或薄膜界面
此時
測量由
光程差引起的相位差引起的光學干涉現象
根據獲得的反射光譜和折射率計算膠片厚度
4：具有形狀的樣品可以無損測量
優(yōu)點
（1）能測量大樣本
，（2）可無損測量
（3）能測量各種形狀的樣品
推理
因為這是一個需要用探針測量的測量，
即使它太大，裝不下
傳統桌面設備，也沒關系。
沒必要提起
不需要像捏或按住那樣施加壓力
優(yōu)點
（1）能測量各種形狀的樣品
，（2）可以測量大型樣品
，（3）可以測量無損樣品
原因
你可以更換探針以匹配樣品。
探針（1）：標準探針
用于平面樣品
（例如）薄膜，簡單形狀
探針（2）：筆型探針選項
用于面積或形狀狹窄的樣品
（例如）薄膜，簡單形狀
探針（3）：非接觸階段選項
用于你不想接觸的樣本
（例如）濕膜、半導體晶圓
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內容聲明：
您訪問的OTSUKA 大塚電子 智能薄膜測厚儀產品信息，由日崎國際貿易（成都）有限公司自行發(fā)布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于OTSUKA 大塚電子 智能薄膜測厚儀型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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